The real challenge ariseswhen simil

The real challenge arises
when similar electrical data is obtained from transistor
nano-probing from completely different defect types.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ความท้าทายที่แท้จริงที่เกิดขึ้นเมื่อได้รับข้อมูลไฟฟ้าที่คล้ายกันจากทรานซิสเตอร์นาโนละเอียดจากชนิดของข้อบกพร่องแตกต่างกันอย่างสิ้นเชิง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ความท้าทายที่แท้จริงเกิดขึ้น
เมื่อข้อมูลที่เป็นไฟฟ้าที่คล้ายกันจะได้รับจากทรานซิสเตอร์
นาโนละเอียดจากข้อบกพร่องชนิดที่แตกต่างกันอย่างสิ้นเชิง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ความท้าทายที่แท้จริงเกิดขึ้นเมื่อข้อมูลที่ได้รับจากทรานซิสเตอร์ไฟฟ้าที่คล้ายกันคือนาโน ละเอียดจากประเภทข้อบกพร่องที่แตกต่างกันอย่างสิ้นเชิง