Accordingly, some molten metal was

Accordingly, some molten metal was flushed away with kerosene while some -A1 was not flushed away from silicon particles, due to the low melting point and flooding of the latter, yielding ridges on the EDMed surface. Measuring the composition with Energy dispersive spectrometer (EDS) reveals that the silicon content in ridges greatly exceeds that in the microstructure (Fig. 13), and in some molten A1 coated on eutectic and primary silicon particles. Therefore discharge density is linearly related to ridge den¬sity.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ตาม บางโลหะหลอมเหลวถูกล้างไป ด้วยน้ำมันก๊าดในขณะบาง-A1 ถูกล้างจากอนุภาคซิลิกอน จุดหลอมเหลวต่ำและน้ำท่วมหลัง ผลผลิตเคลื่อนที่บนพื้นผิว EDMed ไม่ วัดองค์ประกอบกับพลังงานสเปกโตรมิเตอร์ dispersive (EDS) เปิดเผยว่า เนื้อหาซิลิคอนในสันเขามากเกินกว่าที่ต่อโครงสร้างจุลภาค (Fig. 13), และ ในบาง A1 หลอมละลายเคลือบบนอนุภาคของซิลิกอ eutectic และหลัก ดังนั้น ความหนาแน่นปล่อยเป็นเชิงเส้นที่เกี่ยวข้องกับ den¬sity ริดจ์

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ดังนั้นบางโลหะหลอมเหลวถูกล้างไปด้วยน้ำมันก๊าดในขณะที่บาง-A1 ไม่ได้ล้างออกไปจากอนุภาคซิลิกอนเนื่องจากจุดหลอมเหลวต่ำและน้ำท่วมหลังยอมสันเขาบนพื้นผิว EDMed วัดองค์ประกอบที่มีสเปกโตรมิเตอร์กระจายพลังงาน (EDS) เผยให้เห็นว่าเนื้อหาในแนวซิลิกอนมากเกินกว่าว่าในจุลภาค (รูปที่. 13) และในการหลอมละลายบาง A1 เคลือบบนยูเทคติกและหลักอนุภาคซิลิกอน ดังนั้นความหนาแน่นของการปล่อยเป็นเรื่องที่เกี่ยวข้องที่จะเป็นเส้นตรงแนวden¬sity

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ดังนั้นบางโลหะหลอมเหลวถูกล้างด้วยน้ำมันก๊าดในขณะที่บาง - A1 ไม่ Flushed Away จากอนุภาคซิลิคอน เนื่องจากจุดหลอมเหลวต่ําและน้ำท่วมของหลัง ผลผลิต ร่องบนพื้นผิว edmed . การวัดองค์ประกอบพลังงานสเปกโตรมิเตอร์กระจายตัว ( EDS ) พบว่า ปริมาณซิลิคอนในแนวมากเกินกว่าที่โครงสร้างจุลภาค ( รูปที่ 13 )และในบางแบบ A1 ที่เคลือบบนเทคติกและอนุภาคซิลิคอนปฐมภูมิ ดังนั้นความหนาแน่นของการเกี่ยวข้องกับแนวเส้นตรงเดน¬
sity .