X-ray diffraction (XRD) patterns of

X-ray diffraction (XRD) patterns of the as-prepared products were acquired from a Bruker D8 Focus diffractometer (Germany) with Cu Ka radiation operated at 40 kV and 40 mA. Scanning electron microscopy (SEM) was conducted on a Hitachi S4300 field emission scanning electron microscope (FE-SEM). Transmission electron microscopy (TEM) and energy dispersive spectroscopy (EDS) were performed on a JEOL JEM-200CX transmission electron microscope at an acceleration voltage of 200 kV. The powder samples were added to carbon-coated copper grids

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

รูปแบบการเลี้ยวเบนรังสีเอ็กซ์ (XRD) ของผลิตภัณฑ์เป็นการจัดทำได้รับมาจากเครื่อง Bruker D8 โฟกัส diffractometer (เยอรมนี) กับ Cu Ka ดำเนินที่ 40 kV และ 40 mA การสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) ดำเนินการบนฮิตาชิ S4300 การปล่อยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (FE SEM) ส่งชาวดัตช์ (TEM) และพลังงาน dispersive สเปกโทรสโก (EDS) ได้ดำเนินการใน JEOL JEM-200CX กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่มีแรงดันไฟฟ้าเร่ง 200 kV เพิ่มตัวอย่างผงคาร์บอนเคลือบทองแดงกริด

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

X-ray การเลี้ยวเบน (XRD) รูปแบบของผลิตภัณฑ์ที่เป็นเตรียมได้มาจาก Bruker D8 โฟกัส diffractometer (เยอรมนี) กับการฉายรังสี Cu Ka ดำเนินการใน 40 kV และ 40 มิลลิแอมป์ กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) ได้ดำเนินการในฮิตาชิ S4300 ข้อมูลการปล่อยก๊าซกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (FE-SEM) กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (TEM) และกระจายพลังงานสเปกโทรสโก (EDS) ได้รับการดำเนินการบน JEOL JEM-200CX กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่แรงดันไฟฟ้าเร่งความเร็ว 200 กิโลโวลต์ กลุ่มตัวอย่างที่ถูกเพิ่มผงคาร์บอนเคลือบกริดทองแดง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เครื่อง X-ray diffraction ( XRD ) รูปแบบของผลิตภัณฑ์ที่เตรียมได้มาจากบรุคเกอร์ d8 โฟกัสดิฟแฟรกโทมิเตอร์ ( เยอรมนี ) กับทองแดง กะ รังสีดำเนินการ 40 kV และ MA 40 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) มีวัตถุประสงค์ในการจัดเก็บข้อมูล s4300 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( fe-sem ) ส่งกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( TEM ) และพลังงานกระจายตัวสเปกโทรสโกปี ( EDS ) ถูกแสดงบนจอล jem-200cx กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่เร่งแรงดัน 200 KV . ผงคาร์บอนที่มีจำนวนเพิ่มเคลือบทองแดง