Scanning electron microscopy with e

Scanning electron microscopy with energy dispersive X-ray
spectroscopy (SEM-EDS) was used to obtain information about the
morphology and size of the samples. The morphology study of the
catalystswas carried out using a JEOL scanning electron microscope
model JSM-6400 while elemental chemical analysis done with the
EDS technique. Furthermore, bulk metal content present in the
catalysts was determined by using Inductive coupled plasma-
Atomic emission spectrometer (ICP-AES), PerkinElmer Emission
Spectrometer Model Plasma 1000.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกนด้วยพลังงานกระจาย X-ray
สเปกโทรสโก (SEM-EDS)
ถูกนำมาใช้เพื่อให้ได้ข้อมูลเกี่ยวกับลักษณะทางสัณฐานวิทยาและขนาดของกลุ่มตัวอย่าง การศึกษาลักษณะทางสัณฐานวิทยาของ
catalystswas ดำเนินการโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด JEOL
รูปแบบ JSM-6400
ในขณะที่การวิเคราะห์ทางเคมีธาตุทำกับเทคนิคEDS นอกจากนี้โลหะกลุ่มเนื้อหาอยู่ในตัวเร่งปฏิกิริยาที่ถูกกำหนดโดยใช้ควบคู่เหนี่ยวนำพลาสม่าสเปกโตรมิเตอร์การปล่อยอะตอม(ICP-AES), PerkinElmer Emission Spectrometer พลาสม่ารุ่น 1000

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดด้วยรังสีเอกซ์พลังงานกระจายตัวสเปกโทรสโกปี
( sem-eds ) ถูกใช้เพื่อขอรับข้อมูลเกี่ยวกับ
สัณฐานวิทยาและขนาดของตัวอย่าง และจากการศึกษาลักษณะสัณฐานวิทยาของ
catalystswas ดำเนินการโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบจอล
jsm-6400 ในขณะที่ธาตุเคมีการวิเคราะห์เสร็จแล้ว
การศึกษาเทคนิค นอกจากนี้ กลุ่มโลหะ เนื้อหาที่นำเสนอใน
ถูกกำหนดโดยการใช้ตัวเร่งปฏิกิริยาแบบคู่พลาสมา -
อะตอม Emission Spectrometer ( เทคนิค ) , รุ่น Perkinelmer มลพิษ
สเปกโทรมิเตอร์พลาสม่า 1000