The EQE measurements have been acqu

The EQE measurements have been acquired using a 100 W Xe arc lamp, a double monochromator, and a digital lock-in amplifier, integrated in the SPECLAB commercial setup from Fraunhofer ISE. The samples were placed on top of mc-Si solar cell used as reference, and the homogeneity of the DC layer for the different samples was also checked in order to obtain reproducible results. Scanning electronmicroscopy (SEM) images were obtained with a JEOL JSM-6300 electron microscope JEOL Ltd., Tokyo, Japan, with acceleration voltages of 20 and 10 kV. A qualitative energy dispersive X-ray (EDX) spectroscopy analysis of the surface was carried out with an Oxford In-
struments Microanalysis Group 6699 ATW. Atomic force microscopy (AFM) topographic images were taken in peak force tapping mode with a Digital Instruments from Bruker, Nanoscope V controller and a multimode microscope using etched RTESP silicon tips.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

วัด EQE ได้รับมาใช้ 100 วัตต์โคมไฟ Xe โค้ง monochromator คู่และล็อคในระบบดิจิตอลสาย Ampli เอ้อบูรณาการในการตั้งค่าในเชิงพาณิชย์ SPECLAB จาก Fraunhofer ISE กลุ่มตัวอย่างที่ถูกวางไว้ที่ด้านบนของ MC-Si เซลล์แสงอาทิตย์ใช้เป็นข้อมูลอ้างอิงและความสม่ำเสมอของชั้นดีซีสำหรับตัวอย่างที่แตกต่างกันได้รับการตรวจสอบยังเพื่อให้ได้ผลลัพธ์ที่เที่ยงตรง สแกน electronmicroscopy (SEM) ภาพที่ได้รับกับ JEOL JSM-6300 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน JEOL จำกัด กรุงโตเกียวประเทศญี่ปุ่นกับแรงดันไฟฟ้าการเร่งความเร็วของ 20 และ 10 กิโลโวลต์ พลังงานที่มีคุณภาพกระจาย X-ray (EDX) การวิเคราะห์สเปกโทรสโกของพื้นผิวได้รับการดำเนินการกับฟอร์ด In-
struments microanalysis กลุ่ม ATW 6699 กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM) ภาพภูมิประเทศถูกถ่ายในโหมดแรงสูงสุดแตะกับเครื่องมือดิจิตอลจาก Bruker, Nanoscope ควบคุม V และกล้องจุลทรรศน์มัลติใช้ฝัง RTESP เคล็ดลับซิลิกอน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การ eqe วัดได้มาใช้ 100 W XE อาร์คโคมไฟ , โมโนโครเมเตอร์คู่ และดิจิตอลเทคโนโลยี ampli จึงเอ่อ บูรณาการในการติดตั้งจาก Fraunhofer speclab พาณิชย์อิเซ ตัวอย่างถูกวางไว้บนด้านบนของพิธีกร ซี เซลล์แสงอาทิตย์ที่ใช้เป็นข้อมูลอ้างอิง และค่า DC ชั้นสำหรับตัวอย่างที่แตกต่างกันนอกจากนี้ยังตรวจสอบเพื่อให้ได้ผลลัพธ์ซ้ําการสแกนภาพด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) พบว่า มี jsm-6300 จอลจอลกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน จำกัด โตเกียว ญี่ปุ่น กับ แรงดันไฟฟ้า เร่ง 20 และ 10 kV . เชิงคุณภาพพลังงานกระจายตัวรังสี ( การวัด ) การวิเคราะห์สเปกโทรสโกปีของพื้นผิวที่ถูกดำเนินการกับฟอร์ด -
struments จัดเรียงกันอยู่ในกลุ่ม 6699 ATW .กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม ( AFM ) ภูมิประเทศ ภาพที่ถ่ายในโหมดแรงแตะสูงสุดด้วยดิจิตอลเครื่องมือจากบรุคเกอร์นาโนสโคป V , ควบคุมและมัลติโหมดกล้องจุลทรรศน์ใช้แกะสลักเคล็ดลับซิลิคอน rtesp .