Observed data found 2 CHUNKs of NRM

Observed data found 2 CHUNKs of NRM wafer showed narrow WPE that contributed to ET yield.
If exclude this CHUNK, ET yield is around 98.21% that showed comparable to baseline.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ข้อมูลที่สังเกตพบ 2 ชิ้นของ NRM เวเฟอร์แสดงให้เห็นว่าห่วยแตกแคบ ๆ ที่มีส่วนทำให้ผลผลิต ET.
หากไม่รวมก้อนนี้ ET ผลผลิตอยู่ที่ประมาณ 98.21% แสดงให้เห็นว่าเทียบเคียงได้กับพื้นฐาน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ข้อมูลที่พบ 2 ชิ้นของเวเฟอร์ nrm พบแคบ wpe ที่สนับสนุนและผลผลิต .
ถ้าแยกก้อนนี้ และ ผลผลิตประมาณ 98.21 % พบว่าใกล้เคียงกับก่อน
.