2.2.4. Microscopic characteristics

2.2.4. Microscopic characteristics
The microscopic characteristics of the films were evaluated by scanning electron microscopy (SEM) and atomic force microscopy (AFM). In the SEM analysis, pieces of films (20 mm 50 mm) from each treatment were cut and fixed in a support (stub). The samples were covered with 20 nm of gold inside a Balzers metalizer (Model FDU 010, Bal-Tec, Balzers, Liechtenstein) and were observed and photographed with a LEO scanning electron microscope (Model 1430 VP, Carl Zeiss, Cambridge, England) (Pires et al., 2008). The AFM was carried out using a microscope (Model NTEGRA PRIMA, MDT, Moscow, Russia) in an intermittent contact mode. The samples were analyzed in air at room temperature. The roughness measurements were performed with a scanning range of 10 mm 10 mm. Measurements were made in three randomly chosen areas in all samples (Camilloto et al., 2010).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2.2.4. ลักษณะกล้องจุลทรรศน์ ลักษณะกล้องจุลทรรศน์ของฟิล์มถูกประเมิน โดยการสแกน microscopy อิเล็กตรอน (SEM) และ microscopy แรงอะตอม (AFM) ในการวิเคราะห์ SEM ชิ้นส่วนของฟิล์ม (20 มม. 50 มม.) จากแต่ละทรีทเม้นต์ถูกตัด และคงสนับสนุน (ขั้ว) ตัวอย่างถูกปกคลุมไป ด้วย 20 nm ทองภายใน metalizer Balzers (รุ่น FDU 010 ดุล-Tec, Balzers ลิกเตนสไตน์) และมีสังเกต และถ่ายรูปกับลีโอการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (1430 จากรุ่น VP, Carl Zeiss เคมบริดจ์ อังกฤษ) (Pires et al., 2008) AFM ถูกดำเนินการโดยใช้กล้องจุลทรรศน์ (รุ่น PRIMA NTEGRA, MDT มอสโก รัสเซีย) ในโหมดติดต่อเป็นระยะ ๆ มีวิเคราะห์ตัวอย่างอากาศที่อุณหภูมิห้อง การวัดความหยาบได้ทำการสแกนกับ 10 มม. 10 มม.การวัดที่เกิดขึ้นในพื้นที่สามท่านสุ่มในตัวอย่างทั้งหมด (Camilloto et al., 2010)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.2.4 ลักษณะกล้องจุลทรรศน์
กล้องจุลทรรศน์ลักษณะของภาพยนตร์ที่ได้รับการประเมินโดยการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) และกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM) ในการวิเคราะห์ SEM ชิ้นส่วนของภาพยนตร์ (20 มิลลิเมตร 50 มิลลิเมตร) จากการรักษาแต่ละถูกตัดและการแก้ไขในการสนับสนุน (ตับ) ตัวอย่างที่ถูกปกคลุมไปด้วย 20 นาโนเมตรของทองภายใน metalizer Balzers (รุ่น FDU 010, Bal-Tec, Balzers, นสไตน์) และถูกตั้งข้อสังเกตและถ่ายภาพด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด LEO (รุ่น 1430 VP, Carl Zeiss, เคมบริดจ์อังกฤษ) ( Pires et al., 2008) AFM ได้ดำเนินการโดยใช้กล้องจุลทรรศน์ (รุ่น NTEGRA PRIMA, MDT, มอสโก, รัสเซีย) ในโหมดการติดต่อเป็นระยะ ๆ ตัวอย่างที่ได้มาวิเคราะห์ในอากาศที่อุณหภูมิห้อง การวัดความหยาบได้ดำเนินการที่มีช่วงการสแกน 10 มม 10 มม วัดที่ถูกสร้างขึ้นในพื้นที่สามสุ่มเลือกในตัวอย่างทั้งหมด (Camilloto et al., 2010)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.2.4 . ลักษณะของกล้องจุลทรรศน์กล้องจุลทรรศน์
ลักษณะภาพยนตร์ ได้แก่ กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) และกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม ( AFM ) ในการวิเคราะห์ SEM , ชิ้นส่วนของภาพยนตร์ ( 20 มม. และ 50 มม. ) จากการรักษาแต่ละที่ถูกตัดและแก้ไขในการสนับสนุน ( โคน ) ตัวอย่างที่ถูกปกคลุมด้วย 20 nm ของทองภายใน metalizer บัลเซอร์ ( แบบ fdu 010 บัล บัลเซอร์เทค , , ,ราชรัฐลิกเตนสไตน์ ) และพบและถ่ายภาพกับลีโอ กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( รุ่น 1 VP , Carl Zeiss , เคมบริดจ์ , อังกฤษ ) ( เปเรซ et al . , 2008 ) AFM มีการใช้กล้องจุลทรรศน์ ( แบบ ntegra Prima MDT , มอสโก , รัสเซีย ) ในโหมดติดต่อต่อเนื่อง . ตัวอย่างข้อมูลในอากาศที่อุณหภูมิห้องค่าการวัดได้ด้วยการสแกนช่วง 10 มม. 10 มม. วัดได้สามสุ่มเลือกพื้นที่ตัวอย่าง ( camilloto et al . , 2010 )