3. CharacterizationMorphological ch

3. Characterization
Morphological characterizations of chitin NFs, chitosan NPs, chitosan NFs and water soluble chitosan oligomers were performed using Atomic Force Microscope (AFM) using a Park Systems, XE-100 microscope. Imaging was carried out using non-contact mode cantilever, having a tip radius less than 10 nm operating at a scanning frequency of 0.5 Hz. Chitin NFs was first dispersed in water using ultrasound tip. Then drop of the solution was casted onto a mica piece which is later mounted on the scanning stage of AFM after complete drying.

Transmission electron microscopy (TEM) was used to characterize the morphology of the prepared samples using JEOL JEM-1011 operating at an accelerating voltage of 100 kV. Water dispersions of the nanomaterials were casted on TEM grids and allowed for drying. Dried grids were taken for inspection.

Fourier transform infrared spectroscopy (FTIR) measurements were taken for chitin flakes, chitin NFs and for the mixture of chitosan NFs and chitosan NPs (Bruker FT-IR Vertex 80). Dried samples were placed on top of the ZnSe crystal inside the ATR chamber. The special tightening unit that comes with the instrument was used to ensure the maximum contact between crystal and the sample. FTIR spectra were recorded between 4000 cm−1 and 600 cm−1 with the resolution of 4 cm−1 in the absorbance mode for 128 scans at room temperature.

X-ray diffraction (XRD) measurements were carried out using (Brucker D8 Focus X-ray Diffractometer) Cu-Kα radiation emitted from X-ray tube operated at 30 kV and 25 mA. Samples were dried for 2 h at 60 °C for removal of any excess moisture and diffraction patterns were recorded at room temperature.

Thermogravimetric analysis (TGA) was performed for finely grounded chitin flakes, chitosan flakes, chitin NFs and chitosan NFs and chitosan NPs mixture using Q-600 TGA from TA-Instruments. Approximately 9–10 mg of the sample was placed inside the alumina pan and heated from 30 °C to 700 °C at a heating rate of 20 °C/min under a N2 purge of 100 ml/min.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

3. จำแนกCharacterizations ของ NFs ไคทิน NPs ไคโตซาน ไคโตซาน NFs และน้ำไคโตซานละลาย oligomers ดำเนินใช้อะตอมแรงกล้องจุลทรรศน์ (AFM) ใช้ระบบพาร์ค กล้องจุลทรรศน์ XE-100 ภาพถูกนำออกใช้โหมดไม่ติดต่อ cantilever มีรัศมีแนะนำน้อยกว่า 10 nm ทำงานที่ความถี่การสแกน 0.5 Hz. NFs Chitin เป็นครั้งแรกกระจายในน้ำที่ใช้แนะนำซาวด์ แล้ว ปล่อยโซลูชันหล่อบนชิ้นส่วนแก้วซึ่งภายหลังต้องติดบนเวทีแกนของ AFM หลังจากอบเสร็จสมบูรณ์ส่งอิเล็กตรอน microscopy (ยการ) ใช้ลักษณะสัณฐานวิทยาของตัวอย่างเตรียมไว้ใช้ JEOL JEM-1011 ดำเนินงานที่มีแรงดันไฟฟ้าปัจจุบัน 100 kV น้ำ dispersions ของ nanomaterials ถูกหล่อบนกริดยการ และอนุญาตให้แห้ง กริดแห้งถูกนำมาตรวจสอบวัดกอินฟราเรด (FTIR) การแปลงฟูรีเยได้นำไคทิน flakes, NFs ไคทิน และส่วนผสมของ NFs ไคโตซานและไคโตซาน NPs (Bruker FT-IR จุด 80) ตัวอย่างแห้งถูกวางบนคริสตัล ZnSe ภายในห้องเอทีอาร์ หน่วย tightening พิเศษที่มาพร้อมกับเครื่องมือถูกใช้ให้ติดต่อสูงสุดระหว่างคริสตัลและตัวอย่าง แรมสเป็คตรา FTIR ได้บันทึกระหว่าง 4000 cm−1 และ cm−1 600 มีของ cm−1 4 ในโหมด absorbance สำหรับสแกน 128 ที่อุณหภูมิห้องวัดการเลี้ยวเบนการเอ็กซ์เรย์ (XRD) ได้ดำเนินการโดยใช้รังสี (Brucker D8 มาเอ็กซ์เรย์ Diffractometer) Cu-Kα ออกมาจากหลอดเอกซเรย์ดำเนินที่ 30 kV และ 25 mA ตัวอย่างที่แห้งสำหรับ h 2 ที่ 60 ° C สำหรับการกำจัดความชื้นส่วนเกินใด ๆ และบันทึกรูปแบบการเลี้ยวเบนที่อุณหภูมิห้องวิเคราะห์ Thermogravimetric (TGA) ที่ดำเนินการสำหรับ flakes ไคทินประณีตป่นเล็กน้อย flakes ไคโตซาน ไคทิน NFs และ NFs ไคโตซาน และไคโตซานผสมระหว่าง NPs ใช้ Q-600 TGA จากเครื่องมือ TA ประมาณ 9 – 10 mg ของตัวอย่างอยู่ภายในกระทะอลูมินา และอุณหภูมิ 30 ° c 700 ° C ที่อัตราความร้อน 20 ° C/นาที ภายใต้การล้างข้อมูล N2 100 มล/นาที

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

3. ลักษณะ
ทางสัณฐานวิทยาของการตรวจสอบของไคติน NFS, NPS ไคโตซานไคโตซาน NFS และน้ำ oligomers ไคโตซานที่ละลายน้ำได้ดำเนินการโดยใช้กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM) โดยใช้ระบบปาร์ค XE-100 กล้องจุลทรรศน์ การถ่ายภาพได้รับการดำเนินการโดยใช้โหมดเท้าแขนติดต่อไม่มีรัศมีปลายน้อยกว่า 10 นาโนเมตรในการดำเนินงานที่ความถี่การสแกน 0.5 เฮิร์ตซ์ ไคติน NFS กำลังแพร่ระบาดครั้งแรกในน้ำโดยใช้ปลายอัลตราซาวนด์ จากนั้นลดลงของการแก้ปัญหาคือการออกเสียงลงบนแผ่นไมกาซึ่งจะติดตั้งในภายหลังขั้นตอนการสแกน AFM หลังจากการอบแห้งที่สมบูรณ์. กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (TEM) ได้ถูกใช้ในลักษณะสัณฐานวิทยาของกลุ่มตัวอย่างที่เตรียมไว้โดยใช้ JEOL JEM-1011 การดำเนินงานที่เร่งตัวขึ้น แรงดันไฟฟ้า 100 กิโลโวลต์ กระจายน้ำของวัสดุนาโนที่ถูกหล่อบนกริด TEM ​​และได้รับอนุญาตสำหรับการอบแห้ง กริดแห้งถูกนำสำหรับการตรวจสอบ. แปลงฟูริเยอินฟราเรด (FTIR) วัดถูกนำสำหรับเกล็ดไคติน, ไคติน NFS และส่วนผสมของไคโตซานและ NFS NPS ไคโตซาน (Bruker FT-IR เวอร์เท็กซ์ 80) ตัวอย่างแห้งถูกวางไว้ที่ด้านบนของผลึก ZnSe ภายในห้อง ATR หน่วยกระชับพิเศษที่มาพร้อมกับเครื่องมือที่ถูกนำมาใช้เพื่อให้แน่ใจว่าการสัมผัสสูงสุดระหว่างคริสตัลและตัวอย่าง FTIR สเปกตรัมถูกบันทึกไว้ระหว่าง 4000 cm-1 และ 600 เซนติเมตร-1 ที่มีความละเอียดของ 4 เซนติเมตร-1 ในโหมดการดูดกลืนแสงสำหรับ 128 สแกนที่อุณหภูมิห้อง. X-ray diffraction (XRD) วัดได้ดำเนินการโดยใช้ (Brucker D8 โฟกัส X มาตรการเลี้ยวเบน-ray) Cu-Kαรังสีที่ปล่อยออกมาจากหลอด X-ray ดำเนินการวันที่ 30 kV และ 25 mA ตัวอย่างแห้งเป็นเวลา 2 ชั่วโมงที่อุณหภูมิ 60 ° C สำหรับการกำจัดของความชื้นส่วนเกินใด ๆ และรูปแบบการเลี้ยวเบนที่ถูกบันทึกไว้ที่อุณหภูมิห้อง. วิเคราะห์ Thermogravimetric (TGA) ได้ดำเนินการต่อสายดินสำหรับประณีตเกล็ดไคติน, เกล็ดไคโตซานไคตินไคโตซานและ NFS NFS และผสมไคโตซาน NPS โดยใช้ TGA Q-600 จาก TA-เครื่องมือ ประมาณ 9-10 มิลลิกรัมของกลุ่มตัวอย่างที่ถูกนำมาวางภายในกระทะอลูมิเนียมและให้ความร้อนจาก 30 ° C ถึง 700 ° C ที่อัตราความร้อน 20 องศาเซลเซียส / นาทีภายใต้การล้าง N2 100 มล. / นาที

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

3 . ลักษณะทางสัณฐานวิทยา characterizations
> โดย NFS , ไคโตซาน , NFS และไคโตซาน ไคโตซานละลายน้ำหน่วยการใช้กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม ( AFM ) โดยใช้สวนสาธารณะระบบกล้องจุลทรรศน์ xe-100 . ภาพการใช้สะพานโหมดแบบไม่สัมผัส มีปลายรัศมีน้อยกว่า 10 nm ในการดําเนินงานที่สแกนความถี่ 0.5 เฮิรตซ์ไคติน NFS เป็นครั้งแรกที่กระจายตัวในน้ำโดยใช้อัลตราซาวน์ทิป จากนั้นหยดของสารละลายที่ได้ลงบนแก้วชิ้นซึ่งภายหลังติดบนเวทีของ AFM สแกนหลังจากการอบแห้งที่สมบูรณ์

ส่งกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( TEM ) ถูกนำมาใช้เพื่ออธิบายลักษณะของกลุ่มตัวอย่างที่เตรียมไว้ใช้จอล jem-1011 ผ่าตัดเร่งแรงดัน 100 KV .การกระจายของน้ำ nanomaterials เป็นแบบหล่อบนกริดและได้รับอนุญาตให้แห้ง กริดแห้งถูกตรวจสอบ

ฟูเรียร์ทรานฟอร์มสเปกโทรสโกปีอินฟราเรด ( FTIR ) การวัดสำหรับไคตินไค flakes , NFS และส่วนผสมของไคโตแซน NPS ( BRUKER NFS และ FT-IR จุดยอด 80 ) ตัวอย่างแห้ง ถูกวางไว้บนด้านบนของติคริสตัลภายใน ATR ลำพิเศษกระชับหน่วยที่มาพร้อมกับเครื่องมือที่ถูกใช้เพื่อให้แน่ใจว่าสูงสุดติดต่อระหว่างคริสตัลและตัวอย่าง FTIR spectra ถูกบันทึกไว้ระหว่าง 4000 cm − 1 600 cm − 1 ที่มีความละเอียด 4 cm − 1 ในโหมดน 128 สแกนที่อุณหภูมิห้อง .

การวัดการเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์ได้ทดลองใช้ ( เน้นเอ็กซ์เรย์ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ brucker d8 ) cu-k αรังสีที่ออกมาจากหลอดรังสีเอ็กซ์ดำเนินการ 30 kV และ MA 25 ตัวอย่างแห้งที่ 60 ° C เป็นเวลา 2 ชั่วโมง เพื่อกำจัดความชื้นส่วนเกินใด ๆและรูปแบบการเลี้ยวเบนที่ถูกบันทึกไว้ในอุณหภูมิห้อง .

เทอร์โมกราวิเมตริกการวิเคราะห์ ( TGA ) กำหนดให้ป่นละเอียด ไคตินเกล็ด ,เกล็ดไคโตซาน ไคติน และ ไคโตซาน , NFS NFS และไคโตซานผสมเชื้อเพลิงที่ใช้ q-600 TGA จากเครื่องมือทา ประมาณ 9 - 10 mg ของกลุ่มตัวอย่างอยู่ในกระทะอะลูมินาและอุ่นจาก 30 ° C 700 องศา C ที่อัตราความร้อน 20 ° C / นาทีภายใต้การกวาดล้าง N2 100 มิลลิลิตร / นาที