Ex-situ spectroscopic ellipsometry

Ex-situ spectroscopic ellipsometry measurements were carried out using a Woollam Co. M-2000 Variable Angle Spectroscopic Ellipsometer. These spectra were collected
using an angle of incidence of 65-.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

วัด ellipsometry ด้านการวิเคราะห์อดีตได้ดำเนินออกโดยใช้การ Woollam บริษัท M-2000 ตัวแปรมุมด้าน Ellipsometer แรมสเป็คตราเหล่านี้ถูกเก็บรวบรวมใช้การอุบัติการณ์ของมุม 65-

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

อดีตแหล่งกำเนิดสเปกโทรสโกวัด ellipsometry ได้ดำเนินการโดยใช้ Woollam จำกัด M-2000 ตัวแปรมุมสเปกโทรสโก Ellipsometer สเปกตรัมเหล่านี้ถูกเก็บรวบรวม
โดยใช้มุมของอุบัติการณ์ของ 65-

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ลิปโซมิตรีอดีตแหล่งกำเนิดทางวัดได้ดำเนินการโดยใช้ woollam Co . m-2000 ตัวแปรมุมทางลิปโซมิเตอร์ . สเปกตรัมเหล่านี้ถูกรวบรวม
ใช้มุมตกกระทบ 65 -