The AFM measurements were performed

The AFM measurements were performed with Shimadzu SPM-
9600 equipment for evaluating the thickness of the WSH30. A drop
of diluted nanocrystals aqueous suspension was deposited onto
a freshly cleaved mica surface and air-dried. AFM images were
obtainedat roomtemperature inthedynamicmode witha scanrate
of 1 Hz and using Si tips with a curvature radius of less than 10 nm
and a spring constant of 42 N m−1. The thicknesses of nanocrystals
were determined using the VectorScan software (software for
Shimadzu’s SPM-9600). To eliminate the effect of tip radius on
width measurements, we measured the heights ofthe nanocrystals,
Fig. 1. Images of soy hulls before (left) and after the purification (right).
which are not subject to peak broadening artifacts, and assumed
the nanocrystals to be cylindrical in shape (Beck-Candanedo et al.,
2005). A hundred nanocrystals were randomly selected and two
measurements for each nanocrystal were used to determine the
average thickness.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ดำเนินการวัด AFM กับ Shimadzu SPM-อุปกรณ์ 9600 สำหรับประเมินความหนาของ WSH30 ลดลงของ nanocrystals แตกออก ระงับได้ฝากไปยังการ cleaved สดแก้วผิว และ air-dried ภาพ AFM ถูกinthedynamicmode roomtemperature obtainedat กับ scanrate1 Hz และเคล็ดลับศรีด้วยรัศมีความโค้งน้อยกว่า 10 นาโนเมตรและค่าคงสปริงของ 42 N m−1 ความหนาของ nanocrystalsถูกกำหนดโดยใช้ซอฟต์แวร์ VectorScan (ซอฟต์แวร์สำหรับShimadzu ของ SPM 9600) เพื่อกำจัดผลของรัศมีคำแนะนำในวัดความกว้าง เราวัดความสูงของ nanocrystalsFig. 1 ภาพของ hulls ถั่วเหลืองก่อน (ซ้าย) และหลัง จากฟอก (ขวา)ซึ่งไม่อยู่ในช่วง peak broadening สิ่งประดิษฐ์ และสันนิษฐานnanocrystals เป็นทรงกระบอกรูปทรง (เบ็ค Candanedo et al.,2005) . ร้อย nanocrystals ถูกสุ่มเลือก และสองใช้วัดในแต่ละ nanocrystal เพื่อตรวจสอบการหนาเฉลี่ย

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

วัด AFM ได้ดำเนินการกับ Shimadzu SPM-
9600 อุปกรณ์สำหรับการประเมินความหนาของ WSH30 ที่ ลดลงของนาโนคริสตัลเจือจางสารแขวนลอยในน้ำถูกวางลงบนพื้นผิวแก้วตัดสดและอากาศแห้ง ภาพ AFM เป็นobtainedat roomtemperature inthedynamicmode witha scanrate 1 เฮิร์ตซ์และใช้เคล็ดลับศรีที่มีรัศมีความโค้งของน้อยกว่า 10 นาโนเมตรและฤดูใบไม้ผลิอย่างต่อเนื่องของ42 n M-1 หนาของนาโนคริสตัลได้รับการพิจารณาโดยใช้ซอฟต์แวร์ VectorScan (ซอฟแวร์สำหรับ Shimadzu ของ SPM-9600) เพื่อขจัดผลของรัศมีเคล็ดลับในการวัดความกว้างของเราวัดความสูง ofthe นาโนคริสตัลที่รูป 1. รูปภาพของเปลือกถั่วเหลืองก่อน (ซ้าย) และหลังจากการทำให้บริสุทธิ์ (ขวา). ซึ่งไม่ใช่เรื่องที่จะขยายยอดสิ่งประดิษฐ์และสันนิษฐานว่านาโนคริสตัลที่จะเป็นรูปทรงกระบอก (เบ็ค-Candanedo et al., 2005) ร้อยนาโนคริสตัลที่ถูกสุ่มเลือกและสองวัดสำหรับ nanocrystal แต่ละถูกนำมาใช้ในการกำหนดความหนาเฉลี่ย

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

AFM วัดได้กับ Shimadzu SPM -
9600 อุปกรณ์สำหรับประเมินความหนาของ wsh30 . หยดของสารละลายเจือจาง
nanocrystals ระงับได้ฝากไปยัง
สดของแก้วพื้นผิวและอากาศแห้ง AFM ภาพ
obtainedat อุณหภูมิห้อง inthedynamicmode อะ scanrate
1 Hz และใช้ศรีเคล็ดลับที่มีรัศมีความโค้งน้อยกว่า 10 nm
และสปริงค่าคงที่ของ 42 N m − 1 ความหนาของ nanocrystals
ตัดสินใจใช้ vectorscan ซอฟต์แวร์ ( ซอฟต์แวร์
Shimadzu ก็ spm-9600 ) เพื่อขจัดผลของปลายรัศมีบน
วัดความกว้างที่เราวัดความสูงของ nanocrystals
, รูปที่ 1 รูปภาพของเปลือกถั่วเหลืองก่อน ( ซ้าย ) และหลังฟอก ( ขวา ) .
ซึ่งไม่อยู่ภายใต้การขยายยอดสิ่งประดิษฐ์ และถือว่า
การ nanocrystals เป็นทรงกระบอกรูปร่าง ( Beck
candanedo et al . , 2005 ) ร้อย nanocrystals สุ่มและสอง
การวัดแต่ละ nanocrystal ถูกใช้เพื่อตรวจสอบ
ความหนาเฉลี่ย