Contact profilometry measurements s

Contact profilometry measurements showed that a thin layer of ~300 nm can be obtained after one
dip-coating sequence for both compounds, although particle shapes are different for Cu2O (spheres) and ZnO (rods).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ติดต่อ profilometry วัดพบว่าบางชั้น ~ 300 nm ได้หลังหนึ่งชุบเคลือบลำดับสำหรับสารประกอบทั้งสอง ถึงแม้ว่ารูปร่างของอนุภาคจะแตกต่างกันสำหรับ Cu2O (ทรงกลม) และ ZnO (rods)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ติดต่อวัด profilometry แสดงให้เห็นว่าชั้นบาง ๆ ของ ~ 300
นาโนเมตรสามารถรับได้หลังจากลำดับจุ่มเคลือบสารทั้งสองแม้ว่ารูปร่างของอนุภาคแตกต่างกันสำหรับCu2O (ทรงกลม) และซิงค์ออกไซด์ (แท่ง)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ติดต่อ profilometry วัด พบว่า เป็นชั้นบาง ๆของ ~ 300 nm ได้หลังหนึ่ง
จุ่มเคลือบลำดับสำหรับสารทั้งสอง ถึงแม้ว่ารูปร่างของอนุภาคที่แตกต่างกันสำหรับ cu2o ( ทรงกลม ) และสังกะสี ( แท่ง )