The XRD characterization used a Cu-

The XRD characterization used a Cu-Kα radiation(40 kV, 30 mA) for a 2θ range of 5–351 at a scanning rate of 0.021/s.
The TGA was conducted from 30 to 220 1C at a temperature elevation rate of 5 1C/min under nitrogen atmosphere to analyze the moisture content of phenol crystals.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

จำแนก XRD ใช้รังสี Cu-Kα (40 kV, 30 mA) สำหรับ 2θ เป็น ของ 5–351 ในอัตราการสแกน 0.021/s.
The TGA ได้ดำเนินการจาก 30 ถึง 220 1C ในอัตราระดับอุณหภูมิ 1 C 5 นาทีภายใต้บรรยากาศไนโตรเจนวิเคราะห์ชื้นของผลึกวาง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ลักษณะ XRD ใช้รังสี Cu-Kα (40 กิโลโวลต์, 30 mA) สำหรับช่วง2θของ 5-351 ในอัตราการสแกนของ 0.021 / s
TGA ได้ดำเนินการ 30-220 1C ที่อุณหภูมิอัตราการยกระดับจาก 5 1C / นาทีภายใต้บรรยากาศไนโตรเจนในการวิเคราะห์ปริมาณความชื้นของผลึกฟีนอล

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การศึกษาเฟสการใช้ cu-k αรังสี ( 40 กิโล มา 30 ) สำหรับ 2 θช่วง 5 – 351 ที่อัตราการสแกน 0.021 / s .
: ศึกษาจาก 30 ถึง 220 1C ที่อุณหภูมิสูงในอัตรา 5 นาที ภายใต้บรรยากาศไนโตรเจนวิเคราะห์ความชื้นของฟีนอล คริสตัล