multiple measurement are taken on t

multiple measurement are taken on the same unit of product such as measuring oxide thickness at several different location on a wafer in semiconductor manufacturing

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

คือถ่ายหลายวัดในหน่วยเดียวกันของผลิตภัณฑ์เช่นการวัดความหนาของออกไซด์ที่แตกต่างกันหลายบนเวเฟอร์ในการผลิตสารกึ่งตัวนำ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

วัดหลายจะดำเนินการในหน่วยเดียวกันของผลิตภัณฑ์เช่นการวัดความหนาของออกไซด์ที่สถานที่ที่แตกต่างกันหลายเวเฟอร์ในการผลิตเซมิคอนดักเตอร์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

วัดหลายตัวในหน่วยเดียวกันของผลิตภัณฑ์ เช่น การวัดความหนาของออกไซด์ที่สถานที่ที่แตกต่างกันหลายบนเวเฟอร์ในการผลิตสารกึ่งตัวนำ