2.2.1. SEM analysisScanning electro

2.2.1. SEM analysis
Scanning electron microscopy observation of the PANI nanofibres were performed using Hitachi S3400N Scanning electron Microscope at an acceleration voltage 20 kV. The sample was mounted in the stub using silver-DAG paint and gold coated by a Hitachi E1010 Ion Sputter, model no. 03E-1211.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2.2.1 การวิเคราะห์ SEMการสแกนสังเกต microscopy อิเล็กตรอนของ PANI nanofibres ดำเนินโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกน S3400N ฮิตาชิที่แรงเร่ง 20 kV ตัวอย่างถูกติดตั้งในขั้วที่ใช้สีพื้นที่เงินและทองที่เคลือบ โดยฮิตาชิ E1010 ไอออน Sputter รูปแบบหมายเลข 03E-1211

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.2.1 SEM วิเคราะห์
สังเกตกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกนของเส้นใยนาโน PANI ถูกดำเนินการโดยใช้ Hitachi S3400N อิเล็กตรอนกล้องจุลทรรศน์ที่แรงดันไฟฟ้า 20 กิโลโวลต์เร่ง ตัวอย่างถูกติดตั้งในต้นขั้วการใช้สีเงินและสีทอง DAG เคลือบโดย Hitachi E1010 พ่นไอออนรุ่นไม่มี 03E-1211

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.2.1 . SEM จุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกนวิเคราะห์
ของผณิ nanofibres การใช้ฮิตาชิ s3400n กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่แรงดันเร่ง 20 KV . ตัวอย่างที่ติดในโคนโดยใช้เงินวันที่สีและเคลือบทอง โดยบริษัท ฮิตาชิ e1010 ไอออนละล่ำละลักแบบไม่ 03e-1211 .