Scanning electron microscopy (SEM,

Scanning electron microscopy (SEM, Zeiss Auriga, Germany)
was used to characterize morphological properties
and dispersion of clay particles in the rubber matrices

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM, Zeiss โดยมีกำลัง เยอรมนี)ใช้ลักษณะสัณฐานคุณสมบัติและการกระจายตัวของอนุภาคดินเหนียวในเมทริกซ์ยาง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM, Zeiss Auriga, เยอรมนี)
ถูกใช้ในการอธิบายลักษณะคุณสมบัติทางสัณฐานวิทยา
และการกระจายของอนุภาคดินเหนียวในการฝึกอบรมการกรีดยาง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM , Zeiss กลุ่มดาวสารถี เยอรมนีใช้ลักษณะ คุณสมบัติลักษณะและการกระจายของอนุภาคดินเหนียวในยางเมทริกซ์