The capacitance measurements were p

The capacitance measurements were performed on the films at a fixed frequency of 1 kHz a 25 mV/Step in the potential ranging from -0.5 to 1.0 V (vs.SCE). It ensured that the defect concentrations and the film thickness remained ‘frozen’ at the formation values while the capacitance was measured as a function of potential.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ดำเนินการวัดค่าความจุในภาพยนตร์ที่ความถี่ 1 kHz 25 mV/ขั้น ตอนในศักยภาพตั้งแต่ -0.5 ถึง 1.0 V (vs ถาวร SCE) มั่นใจว่า ความเข้มข้นความบกพร่องและความหนาของฟิล์มยังคง 'แช่แข็ง' ค่าก่อตัวในขณะที่มีวัดค่าความจุที่เป็นฟังก์ชันของโอกาส

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การวัดความจุได้ดำเนินการในภาพยนตร์เรื่องที่ความถี่คงที่ 1 เฮิร์ทซ์ 25 mV / ขั้นตอนในศักยภาพตั้งแต่? -0.5 ถึง 1.0 V (vs.SCE) มันทำให้มั่นใจได้ว่าข้อบกพร่องความเข้มข้นและความหนาของฟิล์มยังคง 'แช่แข็ง' ที่ค่าการก่อตัวในขณะที่ความจุวัดเป็นหน้าที่ของที่มีศักยภาพ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

โดยการวัดความจุจำนวนภาพยนตร์ที่คงที่ความถี่ 1 kHz 25 MV / ขั้นตอนในศักยภาพตั้งแต่  - 0.5 ถึง 1.0 V ( vs.sce ) มันมั่นใจว่า ข้อบกพร่องของความเข้มข้นและความหนาของฟิล์ม ' ' ยังคงแช่แข็งที่สร้างคุณค่าในขณะที่ความจุวัดเป็นฟังก์ชันของศักยภาพ