A field emission scanning electron m

A field emission scanning electron microscope (FE-SEM) (Hitachi, S-4800) was used to observe the
microstructure of the coatings. A topology and surface roughness of the coatings was analyzed by
laser microscopy (KEYENCE, VK-X200 series). The average surface roughness was evaluated by scanning
the coating area of 70 x 70 mm2 in non-contact mode (average of five different measurements was
reported). X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) was utilized to evaluate the surface chemistry of
the coatings.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การ field มลพิษการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (FE-SEM) (ฮิตาชิ S-4800) ถูกใช้ในการปฏิบัติการ ต่อโครงสร้างจุลภาคของการเคลือบ โครงสร้างและความเรียบผิวของเคลือบถูกวิเคราะห์โดย เลเซอร์ microscopy (KEYENCE ชุด VK - X 200) ความหยาบผิวที่เฉลี่ยที่ประเมิน ด้วยการสแกน 70 x 70 มม 2 ได้ภายในโหมด-ติดต่อพื้นที่เคลือบ (ค่าเฉลี่ยของการวัดแตกต่างกัน five ถูก รายงาน) มีใช้เอกซเรย์ photoelectron ก (XPS) เพื่อประเมินเคมีพื้นผิวของ ไม้แปรรูป

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การปล่อย ELD สายการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (FE-SEM) (ฮิตาชิ S-4800)
ถูกใช้ในการสังเกตจุลภาคของการเคลือบ ขรุขระ topology
และพื้นผิวของสารเคลือบที่ถูกวิเคราะห์โดยใช้กล้องจุลทรรศน์เลเซอร์(KEYENCE, VK-X200 ชุด) พื้นผิวที่ขรุขระเฉลี่ยการประเมินโดยการสแกนพื้นที่การเคลือบผิวของ 70 x 70 มม 2 ในโหมดไม่ติดต่อ (ค่าเฉลี่ยของสายได้วัดที่แตกต่างกันได้รับรายงาน) เอ็กซ์เรย์สเปคโทรโฟโตอิเล็กตรอน (XPS) ถูกนำมาใช้ในการประเมินสารเคมีที่พื้นผิวของสารเคลือบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

จึงปล่อยละมั่ง เป็นกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( fe-sem ) ( ฮิตาชิ s-4800 ) ถูกใช้เพื่อสังเกต
โครงสร้างจุลภาคของผิวเคลือบ . โทโพโลยีและพื้นผิวขรุขระของผิวเคลือบโดยใช้เลเซอร์ ( ของ vk-x200
กล้องจุลทรรศน์ , ชุด ) ความหยาบผิวเฉลี่ยที่ประเมินโดยการสแกน
เคลือบพื้นที่ 70 x 70 แน่นในโหมดแบบไม่สัมผัส ( เฉลี่ยจึงได้แตกต่างกัน วัดเป็น
รายงาน ) เครื่อง X-ray photoelectron spectroscopy ( XPS ) ใช้เพื่อประเมินพื้นผิวเคมี
เคลือบ