The surface of the samples was exam

The surface of the samples was examined
using SEM, with a JEOL JSM-7500F scanning microscope.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

พื้นผิวของตัวอย่างจะถูกตรวจสอบโดยใช้ SEM ด้วยกล้องจุลทรรศน์สแกน JEOL JSM-7500F

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

พื้นผิวของตัวอย่างถูกตรวจสอบ
โดยใช้ SEM ด้วยกล้องจุลทรรศน์ JEOL JSM-7500F

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

พื้นผิวของตัวอย่างที่ถูกตรวจสอบการใช้ SEM กับจอล jsm-7500f กล้องจุลทรรศน์ .