2.5.1. Low temperature scanning electron microscopy (Cryo-SEM)
AJSM5410® SEM microscope (JEOL, Tokyo, Japan) was used with a Cryo CT-500® unit (Oxford Instruments, Witney, UK) for the Cryo- SEM observation. The samples (1 -mm thick) were placed in the holder, fixed with nitrogen slush (T < — 210 °C), transferred frozen to the Cryo unit, fractured, etched ( — 90 °C), and gold-coated (10 2 bar and 40 mA). They were then transferred to the microscope and examined at 15 kv and —130 °c at a working distance of 15 mm (Fiszman et al., 1999).
ดาวน์โหลด . อุณหภูมิต่ำ กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM แช่แข็ง )ajsm5410 ®กล้องจุลทรรศน์ SEM ( Jeol , โตเกียว , ญี่ปุ่น ) ใช้กับเครื่อง Cryo ct-500 ®หน่วย ( Oxford Instruments , Witney , สหราชอาณาจักร ) สำหรับเครื่อง Cryo - แบบสำรวจ ตัวอย่างที่ 1 - หนา ) อยู่ในยึดตายตัวกับโคลนไนโตรเจน ( t < - 210 ° C ) , ย้ายไปแช่แข็งแช่แข็งหน่วยหัก สลัก ( 90 ° C ) , และทองเคลือบ ( 10 2 บาร์และ MA 40 ) จากนั้นโอนไปยังกล้องจุลทรรศน์และตรวจสอบที่ 15 kV และ - 130 องศา C ที่ระยะทางการทำงานของ 15 มม. ( fiszman et al . , 1999 )
การแปล กรุณารอสักครู่..