Diffraction study. Suitable crystal

Diffraction study. Suitable crystals for X-ray diffraction data were obtained by dissolving the samples in a mixture of 1:1
Data were collected at 125 K using a Bruker diffractometer. Structure resolution and refinement were performed with SHELXTL, details are included in Table 3. H atoms were calculated and constrained as riding on their bound atoms.
contains the supplementary crystallographic data for this paper. These data can be obtained free of charge from The Cambridge Crystalllographic Data Centre via

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ศึกษาการเลี้ยวเบน ผลึกที่เหมาะสมสำหรับข้อมูลที่กระจายแสงเอกซเรย์ได้รับมา โดยการยุบตัวอย่างในส่วนผสม 1:1 มีการรวบรวมข้อมูลที่ใช้ Bruker diffractometer K 125 ความละเอียดของโครงสร้างและดำเนินการกับ SHELXTL รายละเอียดอยู่ในตารางที่ 3 อะตอม H ถูกคำนวณ และจำกัดเป็นบนอะตอมของพวกเขาถูกผูกไว้ประกอบด้วยข้อมูล crystallographic เสริมสำหรับเอกสารนี้ สามารถได้รับข้อมูลเหล่านี้ได้ฟรีจาก Crystalllographic เคมบริดจ์ศูนย์ข้อมูลทาง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การศึกษาการเลี้ยวเบน ผลึกเหมาะสำหรับข้อมูลการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ที่ได้รับโดยการละลายตัวอย่างในส่วนผสมของ 1: 1
เก็บรวบรวมข้อมูลที่ 125 K ใช้ diffractometer Bruker ความละเอียดของโครงสร้างและการปรับแต่งได้ดำเนินการกับ SHELXTL รายละเอียดจะรวมอยู่ในตารางที่ 3 H อะตอมจะถูกคำนวณและ จำกัด เป็นขี่อะตอมผูกพันของพวกเขา.
มีข้อมูล crystallographic เสริมสำหรับบทความนี้ ข้อมูลเหล่านี้สามารถรับได้ฟรีจากเคมบริดจ์ Crystalllographic ศูนย์ข้อมูลผ่านทาง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

วิธีการศึกษา ผลึกที่เหมาะสมสำหรับการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ข้อมูลโดยละลายในส่วนผสมที่ 1 : ตัวอย่างจำนวน 125 K ใช้ BRUKER ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ . โครงสร้างและการปรับแต่งความละเอียดได้ด้วย shelxtl รายละเอียดจะรวมอยู่ในตารางที่ 3 H อะตอมถูกคำนวณและกำหนดเป็นขี่ผูกอะตอมมีเพิ่มเติมทางข้อมูลสำหรับบทความนี้ ข้อมูลเหล่านี้สามารถรับได้ฟรีจากเคมบริดจ์ crystalllographic ศูนย์บริการข้อมูลผ่านทาง