The crystallographic structure and

The crystallographic structure and the morphology of the deposited films were characterized by X-ray diffractometer (RENT 1500, Rigaku Denki) and atomic force microscopy (Nanoscope III, Digital Instruments)

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

โครงสร้าง crystallographic และสัณฐานวิทยาของฟิล์มนำฝากได้ลักษณะทางเอ็กซ์เรย์ diffractometer (เช่า 1500, Rigaku บริษัทเดนกิเทค) microscopy แรงอะตอม (Nanoscope III เครื่องมือดิจิตอล)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

โครงสร้างผลึกและสัณฐานวิทยาของภาพยนตร์ฝากที่โดดเด่นด้วยมาตรการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ (เช่า 1500, Rigaku Denki) และกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (Nanoscope III, เครื่องมือดิจิตอล)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ส่วนทางโครงสร้าง และสมบัติของฟิล์มเอกซ์เรย์ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ฝากเงินมีลักษณะเฉพาะ ( เช่า 1500 rigaku กิ ) และกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม ( นาโนสโคป III , ดิจิตอลเครื่องมือ )