The X-ray diffraction pattern of th

The X-ray diffraction pattern of the FeeW coating electrodeposited
at 0.05 A cm2 is presented in Fig. 2(a). Only one broaden
peak is found at the angle of approximately 42
, implying that the
as-deposited film was amorphous. Fig. 2(b) showed the TEM
morphology and the selected area electron diffraction pattern of
the FeeW coating. The concentric aureole of transmission electron
microscope further demonstrated that the FeeW coating is a kind
of amorphous material.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

รูปแบบการเลี้ยวเบนเอ็กซ์เรย์ของเคลือบ FeeW electrodepositedที่ 0.05 ซม. 2 นำเสนอใน Fig. 2(a) เดียวขยายสูงสุดอยู่ที่มุมของประมาณ 42 หน้าที่ที่ฟิล์มฝากเป็นไปได้ 2(b) fig. ยการแสดงให้เห็นสัณฐานวิทยาและรูปแบบการเลี้ยวเบนอิเล็กตรอนการเลือกตั้งของเคลือบ FeeW Aureole concentric ของส่งอิเล็กตรอนกล้องจุลทรรศน์อีกแสดงว่าเคลือบ FeeW ชนิดของวัสดุไป

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูปแบบ X-ray diffraction ของสารเคลือบผิวรู้สึก electrodeposited
ที่ 0.05 ซม. 2 จะนำเสนอในรูป (2) เพียงคนเดียวที่ขยาย
สูงสุดพบที่มุมประมาณ 42 ?, หมายความว่า
ฟิล์มเป็นฝากเป็นอสัณฐาน มะเดื่อ 2 (ข) แสดงให้เห็น TEM
สัณฐานวิทยาและอิเล็กตรอนพื้นที่ที่เลือกรูปแบบการเลี้ยวเบนของ
การเคลือบผิวรู้สึก รัศมีศูนย์กลางของอิเล็กตรอนส่ง
กล้องจุลทรรศน์ต่อไปแสดงให้เห็นว่าการเคลือบรู้สึกเป็นชนิด
ของวัสดุอสัณฐาน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ลวดลายการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ของ feew เคลือบด้วยไฟฟ้า
0.05 โฆษณา  2 ที่แสดงในรูปที่ 2 ( ก ) เพียงหนึ่งขยาย
สูงสุดพบที่มุมประมาณ 42
, implying ที่
เป็นฝากภาพยนตร์มีสัณฐาน . รูปที่ 2 ( ข ) พบเต็มๆ
สัณฐานวิทยา และเลือกพื้นที่รูปแบบการเลี้ยวเบนของอิเล็กตรอน
feew เคลือบ ที่ศูนย์กลางของการส่งผ่านอิเล็กตรอน
เชิงกลอนกล้องจุลทรรศน์เพิ่มเติมแสดงให้เห็นว่า feew เคลือบเป็นชนิด
อสัณฐานของวัสดุ