A single event upset (SEU) is a cha

A single event upset (SEU) is a change of state caused by ions or electro-magnetic radiation striking a sensitive node in a micro-electronic device, such as in a microprocessor, semiconductor memory, or power transistors. The state change is a result of the free charge created by ionization in or close to an important node of a logic element (e.g. memory "bit"). The error in device output or operation caused as a result of the strike is called an SEU or a soft error.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เป็นเหตุการณ์เดียวอารมณ์เสีย (SEU) การเปลี่ยนแปลงสถานะเกิดจากประจุหรือรังสีแม่เหล็กไฟฟ้าแบบวงจรโดดเด่นโหนสำคัญในอุปกรณ์ไมโครอิเล็กทรอนิกส์ เช่นหน่วยประมวลผล หน่วยความจำสารกึ่งตัวนำ หรือพลังงาน transistors การเปลี่ยนแปลงสถานะเป็นผลของค่าธรรมเนียมฟรีโดย ionization ใน หรือใกล้ กับโหนสำคัญขององค์ประกอบแบบตรรกะ (เช่นหน่วยความจำ "บิต") ข้อผิดพลาดในอุปกรณ์แสดงผลหรือการดำเนินงานที่เกิดจากการนัดหยุดงานเรียกว่า SEU ผิดหรือข้อผิดพลาดที่อ่อน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เหตุการณ์เดียวอารมณ์เสีย (SEU) คือการเปลี่ยนแปลงของรัฐที่เกิดจากไอออนหรือรังสีแม่เหล็กไฟฟ้าที่โดดเด่นโหนดที่มีความสำคัญในอุปกรณ์ไมโครอิเล็กทรอนิกส์เช่นในไมโครโปรเซสเซอร์หน่วยความจำสารกึ่งตัวนำหรือทรานซิสเตอร์พลังงาน เปลี่ยนสถานะเป็นผลมาจากค่าใช้จ่ายฟรีที่สร้างขึ้นโดยการไอออไนซ์ในหรือใกล้เคียงกับโหนดที่สำคัญขององค์ประกอบตรรกะ (เช่นหน่วยความจำ "บิต") ข้อผิดพลาดในการส่งออกอุปกรณ์หรือการดำเนินการที่เกิดเป็นผลมาจากการนัดหยุดงานท​​ี่เรียกว่า SEU หรือข้อผิดพลาดที่อ่อนนุ่ม

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เหตุการณ์เดียวอารมณ์เสีย ( เสือ ) คือ การเปลี่ยนแปลงของรัฐเกิดจากไอออนหรือรังสีแม่เหล็กไฟฟ้า หวือหวา ปมอ่อนไหวในอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ขนาดเล็ก เช่น ในไมโครโปรเซสเซอร์ หน่วยความจำสารกึ่งตัวนำ หรือเพาเวอร์ทรานซิสเตอร์ เปลี่ยนสถานะเป็นผลของค่าใช้จ่ายฟรีที่สร้างขึ้นโดยไอออไนเซชันใน หรือใกล้ กับโหนดที่สำคัญของตรรกะองค์ประกอบ ( เช่นหน่วยความจำ " บิต " ) The error in device output or operation caused as a result of the strike is called an SEU or a soft error.