Microstructure analysis of the film

Microstructure analysis of the films was carried out by using SEM technique in a JEOL JSM-7600F (Japan) field emission scanning electron microscope (Garcia, Martino, & Zaritzky, 2000).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

วิเคราะห์โครงสร้างจุลภาคของภาพยนตร์ได้ดำเนินการ โดยใช้เทคนิค SEM JEOL JSM-7600F (ญี่ปุ่น) การปล่อยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (การ์เซีย มาร์ติโน & Zaritzky, 2000)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การวิเคราะห์โครงสร้างจุลภาคของภาพยนตร์ได้ดำเนินการโดยใช้เทคนิค SEM ใน JEOL JSM-7600F (ญี่ปุ่น) กล้องจุลทรรศน์ข้อมูลการปล่อยอิเล็กตรอนสแกน (การ์เซียมาร์ติโนและ Zaritzky, 2000)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การวิเคราะห์โครงสร้างจุลภาคของฟิล์มโดยใช้เทคนิค SEM ในจอล jsm-7600f ( ญี่ปุ่น ) สนามจากกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( การ์เซีย มาร์ติโน่ และ zaritzky , 2000 )