A TEM image and selected area elect

A TEM image and selected area electron diffraction pattern are shown in Fig. 2. In Fig. 2a, the material exhibits slightly agglomerated particle morphology. The particle size is estimated in the range of 10–20 nm in diameter. In Fig. 2b, the diffraction rings match the hexagonal ZrB2 (1 0 0), (1 0 1) and (1 1 0) planes, in good agreement with the XRD results.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ยการภาพและลวดลายการเลี้ยวเบนของอิเล็กตรอนพื้นที่ที่เลือกจะแสดงใน Fig. 2 ใน Fig. 2a วัสดุจัดแสดงสัณฐานวิทยาอนุภาค agglomerated เล็กน้อย มีประเมินขนาดอนุภาคในช่วง 10-20 nm เส้นผ่านศูนย์กลาง ใน Fig. 2b แหวนการเลี้ยวเบนตรง ZrB2 หกเหลี่ยม (1 0 0), (1 0 1) และ (1 1 0) เครื่องบิน ในข้อตกลงที่ดีกับผล XRD

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ภาพ TEM และอิเล็กตรอนที่เลือกรูปแบบการเลี้ยวเบนพื้นที่จะมีการแสดงในรูป 2. ในรูป 2a, การจัดแสดงนิทรรศการวัสดุ agglomerated เล็กน้อยสัณฐานวิทยาของอนุภาค ขนาดอนุภาคเป็นที่คาดกันในช่วง 10-20 นาโนเมตรเส้นผ่าศูนย์กลาง ในรูป 2b, แหวนเลี้ยวเบนตรง ZrB2 หกเหลี่ยม (1 0 0), (1 0 1) และ (1 1 0) เครื่องบินในข้อตกลงที่ดีกับผล XRD

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ภาพเต็มๆ และเลือกพื้นที่การเลี้ยวเบนอิเล็กตรอนแบบที่แสดงในรูปที่ 2 ในรูปที่ 2A , วัสดุจัดแสดงเล็กน้อย agglomerated สัณฐานของอนุภาค . ขนาดอนุภาคอยู่ในช่วงประมาณ 10 – 20 nm ในเส้นผ่าศูนย์กลาง ในรูปที่ 2B , การเลี้ยวเบนแหวนตรงกับ zrb2 หกเหลี่ยม ( 1 0 0 1 0 1 ) ) และ ( 1 , 0 ) เครื่องบิน มีความสอดคล้องกับวิเคราะห์ผล