The copper coated samples before an

The copper coated samples before and after annealing were cleaned with acetone and were cut in small pieces of 10 mm × 20 mm size for Secondary Electron Microscope (SEM) analysis.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ทองแดงเคลือบตัวอย่างก่อน และ หลังการหลอมถูกล้าง ด้วยอะซิโตน และถูกตัดชิ้นเล็ก ๆ ขนาด 10 × 20 มม.สำหรับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนทุติย (SEM) วิเคราะห์

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กลุ่มตัวอย่างที่ใช้เคลือบทองแดงก่อนและหลังการอบทำความสะอาดด้วยอะซิโตนและถูกตัดเป็นชิ้นเล็ก ๆ ของ 10 มม×ขนาด 20 มมรองกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) การวิเคราะห์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ทองแดงเคลือบตัวอย่างก่อนและหลังการอบอ่อนที่ถูกล้างด้วยอะซิโตนและหั่นชิ้นเล็ก ๆของ 10 มม. × 20 มม. ขนาดสำหรับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนทุติยภูมิ ( SEM ) การวิเคราะห์