this indicates that potential-induc

this indicates that potential-induced degradation in n-type front junction silicon photovoltaic modules used in this work is reversible by our potential-induced degradation test.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

บ่งชี้ว่า เกิดศักยภาพลดในประเภท n หน้าแยกซิลิคอนอาทิตย์ใช้ในงานนี้ได้ไหม โดยทดสอบย่อยสลายให้เกิดศักยภาพของเรา

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

นี้แสดงให้เห็นว่ามีศักยภาพการย่อยสลายที่เกิดขึ้นใน N-หน้าชนิดซิลิคอนแผงเซลล์แสงอาทิตย์ที่ใช้ในงานนี้สามารถย้อนกลับได้โดยการทดสอบการย่อยสลายที่มีศักยภาพที่เกิดของเรา

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

นี้บ่งชี้ว่าศักยภาพให้เกิดการย่อยสลายในหน้าทั่วไปแยกแผงเซลล์แสงอาทิตย์ซิลิคอนที่ใช้ในงานนี้ได้ โดยศักยภาพของเราและการทดสอบ