The phase and crystal structure of

The phase and crystal structure of the films were analyzed by Xray diffraction (XRD) (Cu Ka radiation with a wavelength of l ¼ 0.15418 nm).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

โครงสร้างเฟสและคริสตัลของภาพยนตร์ถูกวิเคราะห์ โดย Xray กระจาย (XRD) (Cu Ka รังสี ด้วยมีความยาวคลื่น l ¼ 0.15418 nm)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ขั้นตอนและคริสตัลโครงสร้างของภาพยนตร์ที่ถูกวิเคราะห์โดย Xray เลนส์ (XRD) (Cu การังสีที่มีความยาวคลื่นลิตร¼ 0.15418 นาโนเมตร)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ขั้นตอนและโครงสร้างผลึกของฟิล์มโดยใช้ Xray diffraction ( XRD ) ( ทองแดง กะ รังสีที่มีความยาวคลื่น l ¼ 0.15418 nm )