2.4. Characterization of synthesize

2.4. Characterization of synthesized silver nanoparticles
The UV-Visible spectra of silver nanoparticles were recorded
as a function of wavelength using UVeVis spectrophotometer
(Helios Gamma, Thermo Corporation, England) operated at a
resolution of 0.5 nm. The shape and size of silver nanoparticles
were determined by SEM equipped with EDX, FESEM
and TEM. For SEM and elemental analysis the dried reaction
mixtures were subjected to JEOL-JSM-5400, Japan, SEM operating
at 30 kV. The shape of nanoparticles was further characterized
by FESEM (Agilent, 8500, USA). For TEM, a drop of
aqueous silver nanoparticles sample was loaded on a carboncoated
copper grid, and it was allowed to dry in room temperature,
the micrographs were obtained using TEM (JEOLJEM-
1200 EX, Japan) operating at 80 kV. The electron diffraction
pattern for a selected area was also recorded. The average
particle size and size distribution were determined by PSSNICOMP
380-ZLS particle sizing spectrophotometer, St. Barbara,
USA. XRD pattern was carried out using X'Pert Pro X-ray
diffractometer (PANalytical, Japan). The target was Cu ka radiation
and with l ¼ 1.54 A°
, the generator operated at 40 kV
and 40 mA, and the scanning mode was continuous with
scanning range (2q) from 4
~ 90
. FT-IR measurements were
carried out using Nicolet 6700, USA FT-IR spectrophotometer
by employing KBr pellet technique. The FT-IR spectra were
collected from 50 scans at a resolution of 4 cm1 in the
transmission mode (4000e400 cm1).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2.4. คุณสมบัติของเก็บกักเงินสังเคราะห์บันทึกแรมสเป็คตรา UV เห็นของเก็บกักเงินเป็นฟังก์ชันของความยาวคลื่นโดยใช้เครื่องทดสอบกรดด่าง UVeVis(เฮลิออสแกมมา เทอร์โม คอร์ปอเรชั่น อังกฤษ) ดำเนินการในการความละเอียด 0.5 นาโนเมตร รูปร่างและขนาดของเก็บกักเงินถูกกำหนด โดย SEM พร้อมเรื่อง FESEMและยการ SEM และวิเคราะห์ธาตุปฏิกิริยาแห้งส่วนผสมถูกต้อง JEOL-JSM-5400 ญี่ปุ่น SEM ที่ปฏิบัติที่ 30 kV เพิ่มเติมมีลักษณะรูปร่างของเก็บกักโดย FESEM (Agilent, 8500 แผ่น สหรัฐอเมริกา) สำหรับยการ วางของตัวอย่างการเก็บกักเงินอควีถูกโหลดใน carboncoated การตารางทองแดง และได้รับอนุญาตให้แห้งในอุณหภูมิห้องmicrographs ได้รับมาใช้ยการ (JEOLJEM-1200 EX ญี่ปุ่น) ทำงานที่ 80 kV การเลี้ยวเบนอิเล็กตรอนรูปแบบในพื้นที่ที่เลือกไว้ถูกบันทึกไว้ ค่าเฉลี่ยขนาดอนุภาคและการกระจายขนาดถูกกำหนด โดย PSSNICOMP380 ZLS อนุภาคขนาดเครื่องทดสอบกรดด่าง St. Barbaraสหรัฐอเมริกา ทำลาย XRD ออกใช้เอ็กซ์เรย์ Pro X'Pertdiffractometer (PANalytical ญี่ปุ่น) เป้าหมายคือ รังสี Cu kaและ l ¼ 1.54 A °เครื่องกำเนิดไฟฟ้าที่ดำเนินการใน 40 kVและ 40 mA และโหมดการสแกนได้อย่างต่อเนื่องด้วยการสแกนช่วง (2q) จาก 4 ~ 90 วัด FT-IR ได้ดำเนินการโดยใช้ Nicolet 6700 เครื่องทดสอบกรดด่าง FT-IR ของสหรัฐอเมริกาโดยใช้เทคนิคเม็ด KBr แรมสเป็คตรา FT-IR ได้รวบรวมจาก 50 สแกนที่ความละเอียด 4 ซม. 1 ใบเกียร์โหมด (4000e400 ซม. 1)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.4 ลักษณะของเงินสังเคราะห์นาโน
สเปกตรัมรังสียูวีที่มองเห็นได้ของอนุภาคเงินที่ถูกบันทึกไว้
เป็นหน้าที่ของความยาวคลื่นโดยใช้สเปก UVeVis
(Helios แกมมา, เทอร์โมคอร์ปอเรชั่นอังกฤษ) ดำเนินการที่
มีความละเอียด 0.5 นาโนเมตร รูปร่างและขนาดของอนุภาคเงิน
ถูกกำหนดโดย SEM พร้อมกับ EDX, FESEM
และ TEM สำหรับ SEM และการวิเคราะห์ธาตุปฏิกิริยาแห้ง
ผสมถูกยัดเยียดให้ JEOL JSM-5400-, ญี่ปุ่น, SEM การดำเนินงาน
ณ วันที่ 30 กิโลโวลต์ รูปร่างของอนุภาคนาโนก็มีลักษณะต่อไป
โดย FESEM (Agilent, 8500, ประเทศสหรัฐอเมริกา) สำหรับ TEM ลดลงของ
เงินน้ำนาโนตัวอย่างถูกโหลดใน carboncoated
ตารางทองแดงและมันได้รับอนุญาตให้แห้งในอุณหภูมิห้อง
กล้องจุลทรรศน์ที่ได้รับใช้ TEM (JEOLJEM-
1200 EX, ญี่ปุ่น) ปฏิบัติการที่ 80 กิโลโวลต์ การเลี้ยวเบนของอิเล็กตรอน
รูปแบบสำหรับพื้นที่ที่เลือกนอกจากนี้ยังได้รับการบันทึก เฉลี่ย
ขนาดอนุภาคและการกระจายขนาดได้รับการพิจารณาโดย PSSNICOMP
380-ZLS อนุภาคสเปกขนาดเซนต์บาร์บาร่า,
สหรัฐอเมริกา รูปแบบ XRD ได้ดำเนินการโดยใช้ X'pert Pro X-ray
มาตรการเลี้ยวเบน (PANalytical, ญี่ปุ่น) เป้าหมายคือ Cu การังสี
และ 1.54 ลิตร¼°
, เครื่องกำเนิดไฟฟ้าที่ดำเนินการที่ 40 กิโลโวลต์
และ 40 มิลลิแอมป์, และโหมดการสแกนได้อย่างต่อเนื่องกับ
ช่วงสแกน (2q) ตั้งแต่วันที่ 4? ~ 90 ?. วัด FT-IR ได้รับการ
ดำเนินการโดยใช้เล 6700, สหรัฐอเมริกาสเปก FT-IR
โดยใช้เทคนิคเม็ด KBr FT-IR สเปกตรัมถูก
เก็บรวบรวมจาก 50 สแกนที่ความละเอียดของ 4 ซม.? 1 ใน
โหมดการส่ง (4000e400 ซม.? 1)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.4 . คุณสมบัติของสังเคราะห์อนุภาคเงิน
UV มองเห็นสเปกตรัมของอนุภาคเงินที่ถูกบันทึกไว้
เป็นฟังก์ชันของความยาวคลื่นที่ใช้ uvevis Spectrophotometer
( Helios บริษัทแกมมา , เทอร์โม , อังกฤษ ) ดำเนินการใน
ความละเอียด 0.5 นาโนเมตร รูปร่างและขนาดของอนุภาคนาโนซิลเวอร์
ถูกกำหนดด้วย SEM ซึ่งมีการวัดและ fesem
, tem .สำหรับ SEM และการวิเคราะห์ธาตุแห้งผสมปฏิกิริยา
ถูก jeol-jsm-5400 , ญี่ปุ่น , SEM ดำเนินงาน
ที่ 30 kV . รูปร่างของอนุภาคต่อลักษณะ
โดย fesem ( Agilent , 8500 , USA ) สำหรับแบบ หยดของสารละลายอนุภาคเงิน
ตัวอย่างที่โหลดใน carboncoated
ทองแดงตาราง และได้รับอนุญาตให้แห้งในอุณหภูมิห้อง
ที่ได้รับการ micrographs TEM ( jeoljem -
1200 ( ญี่ปุ่น ) ปฏิบัติการที่ 80 กิโล . รูปแบบการเลี้ยวเบนอิเล็กตรอน
สำหรับเลือกพื้นที่ยังบันทึก
ขนาดอนุภาคเฉลี่ยและการกระจายขนาดถูกกำหนดโดย pssnicomp
380-zls อนุภาคขนาด Spectrophotometer , St . Barbara
ลาย USA XRD ได้ดําเนินการใช้ x'pert Pro เอ็กซ์เรย์ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ (
panalytical , ญี่ปุ่น )เป้าหมายคือ CU ค่ะและรังสี
L ¼ 1.54 เป็น /
, เครื่องกำเนิดไฟฟ้าทำงาน 40 กิโล
และ MA 40 และสแกนโหมดต่อเนื่องกับ
สแกนช่วง ( 2 ) จาก 4
~ 90
. - วัดเป็น
โดยใช้ nicolet 6700 อเมริกาโดยใช้เทคนิค FT-IR Spectrophotometer
เม็ดา . โดย FT-IR สเปกตถูก
เก็บจาก 50 สแกนที่ความละเอียด 4 ซม. 
1โหมดการส่งผ่าน ( 4000e400 ซม.  1 )