Scanning Electron Microscope (SEM)

Scanning Electron Microscope (SEM) demonstrated a decreasing trend in grain size in the samples sintered at 1000°C

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) แสดงให้เห็นแนวโน้มลดลงในขนาดเม็ดในตัวอย่างที่เผาที่อุณหภูมิ 1000° C

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) แสดงให้เห็นถึงแนวโน้มลดลงขนาดของเมล็ดข้าวในตัวอย่างเผาที่ 1000 องศาเซลเซียส

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) แสดงแนวโน้มลดลงในขนาดของเกรนในตัวอย่างการเผาอบผนึกที่อุณหภูมิ 1000 องศา C