X-ray diffraction (XRD) patterns of

X-ray diffraction (XRD) patterns of ZnO NPs – cotton fibers samples were recorded on a Philips PW3040 X-Ray diffractometer system by monitoring the diffraction angle from 5◦ to 80◦ at 40 keV.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

รูปแบบการเลี้ยวเบนรังสีเอ็กซ์ (XRD) ของ ZnO NPs – ตัวอย่างของเส้นใยฝ้ายมีบันทึกระบบ Philips PW3040 X-Ray diffractometer โดยการตรวจสอบมุมเลี้ยวเบนจาก 5◦ เพื่อ 80◦ ที่ 40 keV

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

X-ray การเลี้ยวเบน (XRD) รูปแบบของการซิงค์ออกไซด์ของกรมอุทยานฯ - ตัวอย่างเส้นใยฝ้ายที่ถูกบันทึกไว้ในระบบ diffractometer Philips PW3040 X-Ray โดยการตรวจสอบมุมการเลี้ยวเบนจาก5◦เพื่อ80◦ที่ 40 เคฟ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์โดยรูปแบบของ ZnO และเส้นใยฝ้ายจำนวนบันทึกในฟิลิปส์ pw3040 เอ็กซ์เรย์ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ระบบโดยการตรวจสอบเลนส์มุมจาก 5 ◦ 80 ◦ 40 เคฟ