XAFS technology is not simply used

XAFS technology is not simply used to study the structure of crystalline matter or a material's electronic structure.


XAFS spectrometry is capable of non-destructive speciation of metals in solid samples, evenif the element of interest is present in low concentrations(0.1%)(Osán et al.,2010)

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เพียงไม่มีใช้เทคโนโลยี XAFS เพื่อศึกษาโครงสร้างอิเล็กทรอนิกส์ของวัสดุหรือโครงสร้างของผลึกเรื่องXAFS spectrometry มีความสามารถในการเกิดสปีชีส์ใหม่ไม่ทำลายของโลหะในตัวอย่างของแข็ง evenif องค์ประกอบที่น่าสนใจอยู่ใน concentrations(0.1%) ต่ำ (Osán et al., 2010)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เทคโนโลยี XAFS ไม่ได้ถูกใช้เพียงเพื่อศึกษาโครงสร้างของเรื่องผลึกหรือโครงสร้างอิเล็กทรอนิกส์ของวัสดุที่. spectrometry XAFS มีความสามารถใน speciation ไม่ทำลายของโลหะในตัวอย่างที่เป็นของแข็ง evenif องค์ประกอบที่น่าสนใจอยู่ในความเข้มข้นต่ำ (0.1%) (เซน et al., 2010)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เทคโนโลยี xafs ไม่เพียงใช้เพื่อศึกษาโครงสร้างของผลึก หรือเรื่องของโครงสร้างวัสดุอิเล็กทรอนิกส์


xafs spectrophotometer คือความสามารถในการจำแนกชนิดไม่ทำลายโลหะในตัวอย่างของแข็ง แม้องค์ประกอบของดอกเบี้ยอยู่ในระดับต่ำ ( 0.1 % ) ( OS . kgm n et al . , 2010 )