For surface analysis, X-ray photoel

For surface analysis, X-ray photoelectron spectroscopy(XPS) was conducted to identify the composition and chemical status of photocatalysts by the Theta Probe XPS (Thermo Scientific)with Mg target as the X-ray source of 1253.6 eV.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สำหรับวิเคราะห์พื้นผิว X-ray photoelectron spectroscopy(XPS) ดำเนินการเพื่อระบุองค์ประกอบและสถานะทางเคมีของ photocatalysts โดยทีโพรบ XPS (เทอร์โมวิทยาศาสตร์) กับเป้าหมายมก.เป็นแหล่ง X-ray ของ 1253.6 eV

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สำหรับการวิเคราะห์พื้นผิว, X-ray โฟโตอิเล็กตรอนสเปกโทรสโก (XPS) ได้ดำเนินการในการระบุองค์ประกอบทางเคมีและสถานะของโฟโตคะโดยที Probe XPS (Thermo Scientific) โดยมีเป้าหมาย Mg เป็นแหล่ง X-ray ของ 1,253.6 eV