2.3. Chemical analysisThe elements

2.3. Chemical analysis
The elements were determined by X-ray fluorescence Spectrometer (XRF) method following the procedures of Goto and Tatsumi [7] using Rigaku ZSX Primus XRF machine equipped with an end window 4 kW RH-anode X-ray tube.
Differential thermal analysis (DTA) technique was used to study the thermal behavior of the raw material at a heating rate of 10 °C/min by using SII EXSTAR 6000.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2.3. เคมีวิเคราะห์องค์ประกอบดำเนินการ โดยเอ็กซเรย์ฟลูออเรสเซนต์สเปกโตรมิเตอร์ (XRF) วิธีขั้นตอนของทัตสึมิ [7] และไปใช้เครื่องจักร Rigaku ZSX Primus XRF กับหน้าต่างสิ้นสุด 4 หลอดเอ็กซเรย์ RH แอโนด kWเทคนิคการวิเคราะห์ความร้อนแตกต่างกัน (DTA) ถูกใช้ในการศึกษาพฤติกรรมความร้อนของวัตถุดิบที่อัตรา 10 ° C/นาที เครื่องทำความร้อน โดยใช้ SII เอ็กซ์สตาร์ 6000

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.3 การวิเคราะห์ทางเคมี
องค์ประกอบถูกกำหนดโดย X-ray fluorescence Spectrometer วิธี (XRF) ตามขั้นตอนของการไปและ Tatsumi [7] โดยใช้เครื่อง Rigaku ZSX Primus XRF พร้อมกับหน้าต่างสิ้น 4 กิโลวัตต์หลอด RH-ขั้วบวก X-ray. the
วิเคราะห์ความร้อนที่แตกต่างกัน (DTA) เทคนิคถูกใช้ในการศึกษาพฤติกรรมการระบายความร้อนของวัตถุดิบในอัตราความร้อน 10 องศาเซลเซียส / นาทีโดยใช้ SII EXSTAR 6000

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.3 การวิเคราะห์ทางเคมีองค์ประกอบที่ถูกกำหนดโดยสเปกโทรมิเตอร์รังสีเอกซ์เรือง ( XRF ) วิธีการตามขั้นตอนของโกะโตและทัตสึมิ [ 7 ] การใช้ rigaku zsx Primus XRF เครื่องติดตั้งหน้าต่างจบ 4 มั้ยกิโลวัตต์ Rh แอโนดทะลุหลอดการวิเคราะห์ความร้อนอนุพันธ์ ( dta ) ศึกษาพฤติกรรมทางความร้อนของวัสดุดิบที่ความร้อนอัตรา 10  °องศาเซลเซียส / นาที ใช้ SII exstar 6000 .