discussion During the experiments,

discussion During the experiments, SEM and TEM images of SiO2 nano particles have been taken in different magnification. The ma in purpose of scanning the images in low magnification orders is to observe the nano particles adhesion in micron size in the samples. So, if nano particles changed to micro-size cluster by adhesion, in this case, it is impossible to observe the existing clusters in nano images in ×50.000 and more magnification. Therefore, first let us review SEM images scanning with micron-size images and ×5.000 and ×20.000 magnification (1 m index) (Fig. 1).From the figures, it is seen that before (control sample)and after irradiation there is not any change in the general background of the image (Fig. 1a–d). According to SEM images shown in Fig. 1, we can say that SiO2 nano particles do not change to large-size “combination” (clusters) under the influence of neutron flux. And now let us review relatively big magnification in order to observe the clusters that can be generated in several hundred nano meter (Fig. 2).So, in this case, we will review SEM images taken with×50.000 magnification (100 nm index). In this case, it is possible to observe bigger nano clusters, which can be formed in nano size, however in this case also the clusters are not observed. Obviously, to these SEM images clusters with the sizes of 200 nm to 1 m are not observed.Now let us review TEM images for analyzing the compound of the nano particles (2–5 nano particles with the diameter of50 nm) in the smaller size (Fig. 3).TEM images shown in Fig. 3, have been taken up to×1.200.000 magnification (10 nm index). From TEM images(Fig. 3a and b) of the initial nano particles it is seen that, all particles has 20 nm size in the samples. This shows that practically the process of “adhesion” does not occur in the initial sample without external influence. In other words, the experimental sample consists of pure nano particles, which has20 nm particles diameter. Moreover, other two TEM images shown in Fig. 3c and d, we can say that new nano particles with about 70 nm size are generated in the sample by very little “adhesion” under the influence of neutron irradiation.And this small amount “adhesion” direct influence to electro physical properties of nano materials [11–14]. Furthermore,in order to study the lattice structure of SiO2 nano particles, it has been carried out SAED analyses for the samples exposed to neutron flux influence and initial circumstance in TEM device(Fig. 4).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

อภิปรายในระหว่างการทดลอง SEM และ TEM ภาพของ SiO2 ที่อนุภาคนาโนได้รับการถ่ายกำลังขยายแตกต่างกัน Ma ในวัตถุประสงค์ของการสแกนภาพในใบสั่งขยายต่ำเป็นการ สังเกตการยึดเกาะของอนุภาคนาโนขนาดไมครอนในตัวอย่าง ดังนั้น ถ้าเปลี่ยนอนุภาคนาโนไมโครขนาดคลัสเตอร์โดยการยึดเกาะ ในกรณีนี้ ทำได้สังเกต clusters ที่มีอยู่ในรูปนาโนใน× 50.000 และขยายเพิ่มเติม ดังนั้น ก่อนให้เราทบทวนภาพ SEM การสแกนภาพขนาดไมครอน และ× 5.000 × 20.000 ขยาย (ดัชนี 1 เมตร) (รูปที่ 1) จากตัวเลข เห็นก่อน (อย่างควบคุม) และหลังจากฉายรังสีมีไม่ ใด ๆ เปลี่ยนทั่วไปพื้นหลังของภาพ (รูป 1a – d) ตามแสดงในรูปที่ 1 ภาพ SEM เราสามารถพูดได้ว่า อนุภาคนาโนของ SiO2 ไม่เปลี่ยนขนาดใหญ่ "ผสม" (clusters) ภายใต้อิทธิพลของนิวตรอนฟลักซ์ และตอนนี้ ให้เราทบทวนขยายค่อนข้างใหญ่การสังเกตกลุ่มที่สามารถสร้างได้ในหลายร้อยนาโนเมตร (2 รูป) ดังนั้น ในกรณีนี้ เราจะทบทวนภาพ SEM ที่ถ่าย ด้วย× 50.000 ขยาย (100 nm ดัชนี) ในกรณีนี้ ได้สังเกตหมู่นาโนใหญ่ ซึ่งสามารถเกิดขึ้นในขนาดนาโน อย่างไรก็ตามในกรณีนี้ คลัสเตอร์จะไม่สังเกต อย่างชัดเจน เหล่านี้ SEM ภาพคลัสเตอร์ มีขนาด 200 นาโนเมตรถึง 1 เมตรจะไม่ได้สังเกต ตอนนี้ ให้เราทบทวน TEM ภาพการวิเคราะห์สารประกอบของอนุภาคนาโน (2 – 5 อนุภาคนาโนกับเส้นผ่าศูนย์กลาง of50 nm) ในขนาดเล็ก (3 รูป) ภาพ TEM แสดงในรูป 3 ได้นำขึ้นมาถึง× 1. 200.000 ขยาย (10 nm ดัชนี) จากภาพ TEM (รูป 3a และ b) อนุภาคนาโนเริ่มต้น มันจะเห็นได้ว่า อนุภาคทั้งหมดมีขนาด 20 nm ในตัวอย่าง นี้แสดงว่า ในทางปฏิบัติกระบวนการ "ยึดติด" เกิดขึ้นในตัวอย่างเริ่มต้นโดยไม่มีอิทธิพลภายนอก ในคำอื่น ๆ ตัวอย่างการทดลองที่ประกอบด้วยอนุภาคนาโนเพียว เส้นผ่านศูนย์กลางอนุภาคนาโนเมตรซึ่ง has20 นอกจากนี้ สอง TEM ภาพอื่น ๆ แสดงในรูป 3 c และ d เราสามารถพูดได้ว่า อนุภาคนาโนใหม่ ด้วยขนาดประมาณ 70 นาโนเมตรสร้างขึ้นในตัวอย่าง โดยมาก "ยึดติด" ภายใต้อิทธิพลของวิธีการฉายรังสีนิวตรอน และ "ยึดติด" ตรงนี้เล็กน้อยที่มีอิทธิพลต่อการไฟฟ้าคุณสมบัติทางกายภาพของวัสดุนาโน [11-14] นอกจากนี้ เพื่อศึกษาโครงสร้างตาข่ายของอนุภาคนาโน SiO2 มันมีการดำเนิน SAED วิเคราะห์ตัวอย่างสัมผัสกับอิทธิพลนิวตรอนฟลักซ์และสถานการณ์เริ่มต้นอุปกรณ์ TEM (4 รูป)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การอภิปรายในช่วงการทดลอง, SEM และ TEM ภาพของ SiO2 อนุภาคนาโนได้รับการดำเนินการในการขยายที่แตกต่างกัน ซาชูเซตส์ในวัตถุประสงค์ของการสแกนภาพในคำสั่งขยายต่ำคือการสังเกตการยึดเกาะอนุภาคนาโนขนาดไมครอนในกลุ่มตัวอย่าง ดังนั้นถ้าอนุภาคนาโนเปลี่ยนไปเป็นคลัสเตอร์ไมโครขนาดโดยการยึดเกาะในกรณีนี้มันเป็นไปไม่ได้ที่จะสังเกตเห็นกลุ่มที่มีอยู่ในภาพนาโนใน× 50.000 และอื่น ๆ ขยาย ดังนั้นก่อนอื่นให้เราตรวจสอบภาพ SEM สแกนด้วยภาพไมครอนขนาดและ× 5.000 และ 20.000 ×ขยาย (1 m? ดัชนี) (รูปที่ 1). เทียบัตัวเลขก็จะเห็นว่าก่อน (ตัวอย่าง Control) และหลังการฉายรังสีมี ไม่เปลี่ยนแปลงใด ๆ ในพื้นหลังทั่วไปของภาพ (รูป. 1A-D) ตามที่ภาพ SEM แสดงในรูป 1 เราสามารถพูดได้ว่า SiO2 อนุภาคนาโนไม่เปลี่ยนไปขนาดใหญ่ "รวมกัน" (กลุ่ม) ภายใต้อิทธิพลของนิวตรอนฟลักซ์ และตอนนี้ให้เราตรวจสอบขยายค่อนข้างใหญ่ในการสั่งซื้อที่จะสังเกตเห็นกลุ่มที่สามารถสร้างขึ้นในหลายร้อยเมตรนาโน (รูปที่. 2) ดังนั้นในกรณีนี้เราจะตรวจสอบภาพที่ถ่ายด้วย SEM × 50.000 ขยาย (ดัชนีนาโนเมตร 100) . ในกรณีนี้ก็เป็นไปได้ที่จะสังเกตเห็นกลุ่มนาโนขนาดใหญ่ซึ่งสามารถเกิดขึ้นในขนาดนาโน แต่ในกรณีนี้ยังคลัสเตอร์จะไม่ได้สังเกต เห็นได้ชัดให้กับภาพเหล่านี้กลุ่ม SEM ที่มีขนาด 200 นาโนเมตรถึง 1 m? ไม่ได้ observed.Now ให้เราตรวจสอบภาพ TEM สำหรับการวิเคราะห์สารประกอบของอนุภาคนาโนที่ (2-5 อนุภาคนาโนที่มีขนาดเส้นผ่าศูนย์กลาง of50 นาโนเมตร) ในที่มีขนาดเล็ก ขนาด (รูปที่. 3) ภาพ .TEM แสดงในรูป 3 ได้รับการถ่ายถึง× 1.200.000 ขยาย (10 นาโนเมตรดัชนี) จากภาพ TEM (รูป. 3A และ b) ของอนุภาคนาโนเริ่มต้นจะเห็นว่าอนุภาคทั้งหมดมีขนาดนาโนเมตรที่ 20 ในกลุ่มตัวอย่าง นี้แสดงให้เห็นว่าในทางปฏิบัติกระบวนการของการ "ยึดเกาะ" ไม่ได้เกิดขึ้นในตัวอย่างเริ่มต้นโดยอิทธิพลภายนอก ในคำอื่น ๆ ตัวอย่างการทดลองประกอบด้วยอนุภาคนาโนบริสุทธิ์ซึ่ง has20 เส้นผ่าศูนย์กลางอนุภาคนาโนเมตร นอกจากนี้ยังมีอีกสองภาพ TEM แสดงในรูป 3c และ D เราสามารถพูดได้ว่าอนุภาคนาโนใหม่ที่มีขนาดประมาณ 70 นาโนเมตรถูกสร้างขึ้นในตัวอย่างโดยน้อยมาก "การยึดเกาะ" ภายใต้อิทธิพลของนิวตรอน irradiation.And นี้มีขนาดเล็กจำนวน "การยึดเกาะ" อิทธิพลโดยตรงเพื่อ electro คุณสมบัติทางกายภาพของวัสดุนาโน [11-14] นอกจากนี้เพื่อศึกษาโครงสร้างตาข่ายของ SiO2 อนุภาคนาโนจะได้รับการดำเนินการ Saed วิเคราะห์ตัวอย่างสัมผัสกับนิวตรอนอิทธิพลฟลักซ์และสภาพแวดล้อมในการเริ่มต้นอุปกรณ์ TEM (รูปที่. 4)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การสนทนาระหว่างการทดลอง , SEM และ TEM อนุภาคนาโนของซิลิกาภาพถูกถ่ายในที่แตกต่างกันขยาย . มาเพื่อการสแกนภาพในคำสั่งขยายต่ำจะสังเกตการยึดเกาะอนุภาคนาโนขนาดไมครอนในตัวอย่างที่ ดังนั้น ถ้าอนุภาคนาโนเปลี่ยนคลัสเตอร์ขนาดไมโคร โดยการยึดเกาะ , ในกรณีนี้ , มันเป็นไปไม่ได้ที่จะสังเกตกลุ่มที่มีอยู่ในรูปนาโนใน× 50.000 และขยายเพิ่มเติม ดังนั้น ก่อนแจ้งให้เราตรวจสอบจากภาพสแกนด้วยไมครอนขนาดภาพและ× 5.000 และ× 20.000 ขยาย ( ดัชนี 1 M ) ( รูปที่ 1 ) จากรูป จะเห็นได้ว่าก่อน ( ตัวอย่างควบคุม ) และหลังการฉายรังสียังไม่มีการเปลี่ยนแปลงใด ๆในพื้นหลังทั่วไปของภาพ ( รูปที่ 1A ( D ) . ตามด้วยภาพที่แสดงในรูปที่ 1 เราสามารถพูดได้ว่าอนุภาคนาโนซิลิกาไม่เปลี่ยนขนาดใหญ่ " รวม " ( กลุ่ม ) ภายใต้อิทธิพลของนิวตรอนฟลักซ์ และตอนนี้ให้เราทบทวนขยายที่ค่อนข้างใหญ่ เพื่อสังเกตกลุ่มที่สามารถสร้างขึ้นในนาโนหลายร้อยเมตร ( รูปที่ 2 ) ดังนั้น ในกรณีนี้ เราจะตรวจสอบภาพนี้ถ่ายกับ× 50.000 ขยาย ( ดัชนี 100 nm ) ในกรณีนี้ , มันเป็นไปได้ที่จะสังเกตกลุ่มนาโนขนาดใหญ่ซึ่งสามารถเกิดขึ้นในขนาดนาโน แต่ในกรณีนี้ยังกลุ่มจะไม่ได้สังเกต เห็นได้ชัดว่าภาพเหล่านี้ ซึ่งกลุ่มที่มีขนาด 200 nm ถึง 1 เมตร ไม่สังเกต ตอนนี้ให้เรารีวิวแบบภาพวิเคราะห์สารประกอบของอนุภาคนาโน ( 2 – 5 อนุภาคนาโนที่มีขนาดเส้นผ่าศูนย์กลาง of50 nm ) ขนาดเล็ก ( รูปที่ 3 ) ภาพแบบแสดงในรูปที่ 3 ได้ ถ่ายถึง× 1.200.000 ขยาย ( ดัชนี 10 nm ) จากแบบรูป ( รูปที่ 3A และ b ) เริ่มต้นของอนุภาคนาโนจะเห็นได้ว่า ทั้งหมดมี 20 nm ขนาดอนุภาคในตัวอย่างที่ นี้แสดงให้เห็นว่า ในทางปฏิบัติ กระบวนการของการ " ยึดติด " ไม่ได้เกิดขึ้นในตัวอย่างเบื้องต้น โดยอิทธิพลภายนอก ในคำอื่น ๆที่ใช้ทดลองประกอบด้วยอนุภาคนาโนบริสุทธิ์ ซึ่ง has20 nm อนุภาคเส้นผ่านศูนย์กลาง ส่วนสองภาพที่แสดงในรูปแบบ 3 C และ D , เราสามารถพูดได้ว่าอนุภาคนาโนใหม่มีประมาณ 70 nm ขนาดถูกสร้างขึ้นในตัวอย่างโดยน้อยมาก " ยึดติด " ภายใต้อิทธิพลของการฉายรังสีนิวตรอน และปริมาณเล็ก " นี้ยึดเกาะตรง " มีอิทธิพลต่อไฟฟ้าคุณสมบัติทางกายภาพของวัสดุนาโน [ 11 – 14 ] . นอกจากนี้ เพื่อศึกษาโครงสร้างตาข่ายของ SiO2 ที่อนุภาคนาโน ได้ดำเนินการ saed วิเคราะห์เพื่อสัมผัสกับนิวตรอนฟลักซ์และอิทธิพลสถานการณ์ในเบื้องต้นอุปกรณ์ TEM ( รูปที่ 4 )