The self-test and self-repair metho

The self-test and self-repair methodology presented in this paper is based on using a BICS to control the leakage current
of the circuit under test (CUT). The BICS is used to detect the presence of multiple bridging faults that create a direct path
between VDD and VSS. The BICS output is a Pass/Fail signal. In fact, when a fault causing an elevated IDDQ leakage current occurs, the output of the BICS must be equal to the high level (Fail). Otherwise, the CUT is fault-free and the BICS output must be equal to the low level (Pass). The fault-free analog output (Vout2) is obtained by hardware redundancy or it can be
digitalized and pre-stored in a flash memory embedded in the considered SoC.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

วิธีทดสอบ และการซ่อมแซมด้วยตนเองที่นำเสนอในเอกสารนี้อยู่ใช้ BICS การควบคุมการรั่วไหลของกระแสของวงจรภายใต้การทดสอบ (ตัด) BICS ที่ใช้ในการตรวจหาข้อบกพร่องระหว่างกาลหลายที่สร้างเส้นทางโดยตรงระหว่าง VDD และ VSS. ผล BICS สัญญาณ Pass/Fail ได้ ในความเป็นจริง เมื่อเกิดความผิดพลาดทำให้เกิดการยกระดับ IDDQ กระแสรั่วไหล ผลลัพธ์ของ BICS จะต้องเท่ากับระดับสูง (ล้มเหลว) มิฉะนั้น ตัดจะปราศจากข้อบกพร่องและผล BICS ต้องเท่ากับระดับต่ำสุด (ผ่าน) ผลผลิตที่ปราศจากข้อบกพร่องแบบแอนะล็อก (Vout2) จะได้รับ โดยฮาร์ดแวร์ซ้ำ หรือสามารถดิจิทัล และก่อนเก็บไว้ในหน่วยความจำแฟลชที่มีใน SoC. พิจารณา

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การทดสอบตัวเองและวิธีการซ่อมแซมตัวเองนำเสนอในบทความนี้จะขึ้นอยู่กับการใช้ BICS
ในการควบคุมการรั่วไหลของกระแสไฟฟ้าของวงจรภายใต้การทดสอบ(CUT) BICS
จะใช้ในการตรวจสอบสถานะของการเชื่อมโยงความผิดพลาดหลายที่สร้างเส้นทางตรงระหว่างVDD และ VSS เอาท์พุทเป็น BICS ผ่าน / สัญญาณล้มเหลว ในความเป็นจริงเมื่อความผิดที่ก่อให้เกิดการรั่วไหลของ IDDQ สูงเกิดขึ้นในปัจจุบันการส่งออกของ BICS จะต้องเท่ากับระดับสูง (ล้มเหลว) มิฉะนั้น CUT เป็นความผิดของฟรีและเอาท์พุท BICS ต้องเท่ากับระดับต่ำ (ผ่าน) เอาท์พุทแบบอะนาล็อกความผิดฟรี (Vout2) ได้มาจากความผิดพลาดของฮาร์ดแวร์หรือสามารถ
digitalized และ pre-เก็บไว้ในหน่วยความจำแฟลชที่ฝังอยู่ใน SoC พิจารณา

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ในการทดสอบตัวเองและวิธีการซ่อมแซมตนเองนำเสนอในบทความนี้จะขึ้นอยู่กับการใช้บิกส์เพื่อควบคุมการรั่วไหลในปัจจุบัน
ของวงจรภายใต้การทดสอบ ( ตัด ) ที่บิกส์ถูกใช้เพื่อตรวจสอบสถานะของการเชื่อมโยงหลายความผิดพลาดที่สร้างเส้นทางตรงระหว่าง VDD VSS
และ . ที่บิกส์ผลผลิตคือ ผ่าน / ไม่ผ่าน สัญญาณ ในความเป็นจริง เมื่อความผิดที่ก่อให้เกิดการยกระดับ iddq ปัจจุบันการรั่วไหลเกิดขึ้นผลผลิตของบิกส์ต้องเท่ากับระดับสูง ( ล้มเหลว ) มิฉะนั้น ตัดผิดฟรีและบิกส์ผลผลิตต้องเท่ากับระดับต่ำ ( ผ่าน ) ความผิดฟรี Analog output ( vout2 ) ได้มาจากความซ้ำซ้อนหรือฮาร์ดแวร์สามารถ
digitalized และ pre เก็บไว้ในหน่วยความจำแฟลชฝังตัวอยู่ในการพิจารณา ส .