In order to investigate the degrada

In order to investigate the degradation mechanism,we have
analyzed the silicon surface of the potential-induced degradation-tested module by secondary ion mass spectrometry mea-
surement. The dynamic secondary ion mass spectrometry data of sodium concentration in the surface of Si
cells for a non-degraded module and potential-induced degradation-degraded modules are
shown in Fig. 4

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การตรวจสอบกลไกการย่อยสลาย เรามีวิเคราะห์ผิวซิลิคอนเกิดศักยภาพทดสอบย่อยสลายโม โดยไอออนรองรเมท mea-สากล ข้อมูลรเมทไดนามิกรองไอออนของโซเดียมความเข้มข้นในพื้นผิวของศรีเซลล์โมไม่เสื่อมโทรมและเกิดศักยภาพโมเสื่อมสภาพเสื่อมโทรมแสดงในรูปที่ 4

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เพื่อที่จะตรวจสอบกลไกการย่อยสลายที่เราได้
วิเคราะห์พื้นผิวซิลิกอนของโมดูลย่อยสลายผ่านการทดสอบศักยภาพเหนี่ยวนำโดยรองไอออนมวลสารเด็ดขาด
surement ข้อมูลแบบไดนามิกรองไอออนมวลสารของความเข้มข้นของโซเดียมในพื้นผิวของศรี
เซลล์สำหรับโมดูลไม่มีการลดคุณภาพและโมดูลย่อยสลายเสื่อมโทรมที่มีศักยภาพที่เกิดขึ้นจะมีการ
แสดงในรูป 4

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เพื่อศึกษากลไกการย่อยสลาย เรามีวิเคราะห์ศักยภาพและซิลิคอน พื้นผิวของการย่อยสลายทดสอบโมดูลโดยรองไอออนมวลสาร - การไฟฟ้านครหลวงsurement . แบบไดนามิกรองไอออนมวลสารข้อมูลความเข้มข้นของโซเดียมในผิวศรีเซลล์ไม่เสื่อมโทรมและศักยภาพการเสื่อมสลายโมดูลโมดูลแสดงในรูปที่ 4