Scanning Electron Microscopy (SEM)

Scanning Electron Microscopy (SEM) of the BC surfaces
was performed using a SU-70 Hitachi instrument operating
at 4 KV. Samples were previously coated with evaporated
carbon.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สแกน Microscopy อิเล็กตรอน (SEM) ของพื้นผิว BCทำใช้กับ SU 70 ฮิตาชิเครื่องมือปฏิบัติที่ 4 KV ตัวอย่างก่อนหน้านี้ถูกเคลือบด้วยที่หายไปคาร์บอน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) ของพื้นผิว BC
ถูกดำเนินการโดยใช้เครื่องมือ SU-70 Hitachi ปฏิบัติการ
ที่ 4 KV ตัวอย่างที่ถูกเคลือบก่อนหน้านี้กับระเหย
คาร์บอน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) ในพ.ศ. พื้นผิว
แสดงการใช้ su-70 HITACHI เครื่องมือผ่าตัด
ที่ 4 kV . ตัวอย่างก่อนหน้านี้ระเหย
เคลือบด้วยคาร์บอน