ZEISS Metrology ForumDate: 1 August

ZEISS Metrology Forum
Date: 1 August 2014, Friday
Time: 9am – 4.30pm
Venue: Thai-German Institute (TGI)

As the world’s leading CMM manufacturer and the inventor of contact scanning technology, ZEISS continues to strengthen our brand awareness and technical edge in the industry. Collaborating with the Thai-German Institute, a ZEISS Metrology Forum was recently held on 1 August 2014 in Chonburi, Thailand. Over 170 participants turned up for the forum, of which they include existing customers from ZEISS, potential business prospects, metrologist from TGI and National Metrology of Thailand. The forum is primarily aimed at educating participants on technical metrology knowledge, on solving measuring problems and for sharing of the latest innovations in the metrology field.

ZEISS presented on topics such as GD&T inspection by CMM to improve manufacturing processes, case studies of GD&T application on CMM and general GD&T talk for CMM users. Special guests, metrologists from TGI, Mr. Asada and Mr. Sunti, also provided technical insights on using CMM inspection to improve manufacturing processes. Dr. Sunisa from ZEISS Microscopy also shared information on ZEISS microscopes’ broad industrial application from Micro to Nano. The forum ended with an interactive metrology interview with ZEISS Application and Service team. Many participants proposed questions for the team to address and the event was wrapped up very successfully.

The event proved to be a good bridge between the technical experts and potential customers, where many can understand more in depthly, ZEISS metrology advantage in the market. We are very happy to have all the 170 participants who were there and are definitely looking forward to our next Metrology Forum.

****************************************************************


Thank you.

Kind Regards,
Yumin
________

Carl Zeiss Pte Ltd
Industrial Metrology Business Group
Regional Marketing Executive

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ZEISS มาตรวิทยาเวที
วัน: 1 2014 สิงหาคม ศุกร์
เวลา: 09.00 น.-4.30 น.
สถาน: สถาบันไทย-เยอรมัน (TGI)

เป็นโลกของผู้นำผู้ผลิตการ CMM และผู้ประดิษฐ์ติดต่อสแกนเทคโนโลยี ZEISS ยังเสริมสร้างการรับรู้แบรนด์และขอบทางเทคนิคในอุตสาหกรรมของเรา ร่วมมือกับ สถาบันไทย-เยอรมัน เวทีมาตรวิทยา ZEISS ล่าสุดวันที่ 1 2014 สิงหาคมในชลบุรี ประเทศไทย ผู้เข้าร่วมกว่า 170 เปิดขึ้นสำหรับฟอรั่ม ซึ่งพวกเขารวมถึงลูกค้าที่มีอยู่จาก ZEISS แนวโน้มธุรกิจที่มีศักยภาพ metrologist จาก TGI และมาตรวิทยาแห่งชาติของประเทศไทย เวทีมีวัตถุประสงค์หลักที่ร่วมจัดความรู้มาตรวิทยาทางด้านเทคนิค แก้ปัญหาการวัด และใช้ร่วมกันของใหม่ ๆ ในมาตรวิทยาฟิลด์

ZEISS แสดง โดย CMM เพื่อปรับปรุงกระบวนการผลิตในหัวข้อต่าง ๆ เช่นตรวจ GD&T กรณีศึกษาของแอพลิเคชัน GD&T CMM และ GD&T ทั่วไปพูดคุยสำหรับผู้ใช้ CMM แขก metrologists จาก TGI นาย Asada และนายซันตียู ยัง ให้ข้อมูลเชิงลึกเทคนิคในการใช้ตรวจสอบ CMM เพื่อปรับปรุงกระบวนการผลิต ดร.สุนิสาจาก ZEISS Microscopy ยังใช้ร่วมกันข้อมูลของ ZEISS คิตกว้างอุตสาหกรรมประยุกต์จากไมโครนาโน เวทีสนทนาจบลง ด้วยการสัมภาษณ์มาตรวิทยาโต้ตอบกับทีม ZEISS แอพลิเคชันและบริการ ผู้เข้าร่วมจำนวนมากเสนอคำถามสำหรับทีมอยู่และเหตุการณ์ถูกห่ออย่างเรียบร้อย

เหตุการณ์พิสูจน์แล้วว่าเป็นสะพานที่ดีระหว่างผู้เชี่ยวชาญทางเทคนิคและลูกค้าที่มีศักยภาพ ที่หลายคนเข้าใจใน depthly, ZEISS มาตรวิทยาประโยชน์ในตลาด เรามีความสุขมากมีทุก 170 คนที่นั่น และมีแน่นอนรอของเราต่อไปมาตรวิทยาฟอรั่ม

***


ขอบคุณ

ชนิดพิจารณา,
Yumin
___

Carl Zeiss Pte Ltd
กลุ่มธุรกิจมาตรวิทยาอุตสาหกรรม
ภูมิภาคตลาดบริหาร

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

วันที่ : 1 สิงหาคม Zeiss มาตรวิทยาฟอรั่ม

เวลา : 2014 , วันศุกร์ 9 โมงเช้า–คํา
สถานที่ : สถาบันไทย - เยอรมัน ( TGI )

เป็นชั้นนำของโลกผู้ผลิตและนักประดิษฐ์ของ CMM ติดต่อสแกนเทคโนโลยี , Zeiss ยังคงเสริมสร้างการรับรู้แบรนด์และขอบด้านเทคนิคของเราในอุตสาหกรรม ร่วมมือกับสถาบันเยอรมันไทยฟอรั่มมาตรวิทยา Zeiss จัดขึ้นเมื่อเร็วๆ นี้ ในวันที่ 1 สิงหาคม 2014 ในชลบุรี , ไทย กว่า 170 เข้าร่วมเปิดขึ้นสำหรับฟอรั่มของพวกเขาซึ่งรวมถึงลูกค้าที่มีอยู่จาก Zeiss , แนวโน้มธุรกิจที่มีศักยภาพและผู้ศึกษาระบบการวัดและการชั่งน้ำหนักจาก TGI มาตรวิทยาแห่งชาติ การประชุมมีวัตถุประสงค์หลักเพื่อให้ความรู้ผู้เข้าร่วมในมาตรวิทยาทางด้านเทคนิคในการแก้ไขปัญหาและการวัดของนวัตกรรมล่าสุดในมาตรวิทยาสาขา

Zeiss นำเสนอหัวข้อเช่น GD & t ตรวจสอบโดย CMM เพื่อปรับปรุงกระบวนการผลิต กรณีศึกษาของ GD & T โปรแกรม CMM และทั่วไป GD & T พูดคุยสำหรับผู้ใช้ CMM . แขกพิเศษ metrologists จาก TGI , นายอาซาดะ และ ดีแทค นาย ,ยังให้ข้อมูลเชิงลึกทางด้านเทคนิคในการใช้ตรวจสอบ CMM ในการปรับปรุงกระบวนการผลิต ดร. สุนิสา จาก Zeiss กล้องจุลทรรศน์ที่ใช้ร่วมกันยังข้อมูลเกี่ยวกับ Zeiss กล้องจุลทรรศน์กว้าง ' อุตสาหกรรมประยุกต์จากจุลภาคนาโน การประชุมจบลงด้วยแบบสัมภาษณ์กับ Zeiss ประยุกต์ใช้มาตรวิทยาและทีมงานบริการผู้เข้าร่วมหลายคนเสนอคำถามให้กับทีมอยู่ และเหตุการณ์ที่ถูกห่อเรียบร้อยมาก

เหตุการณ์ที่พิสูจน์แล้วว่าเป็นสะพานระหว่างผู้เชี่ยวชาญด้านเทคนิคและลูกค้าที่มีศักยภาพที่สามารถเข้าใจมากขึ้นใน depthly Zeiss มาตรวิทยา , ความได้เปรียบในตลาดเรามีความสุขมากที่จะมีทั้งหมด 170 คนซึ่งมี และแน่นอนมองไปข้างหน้าฟอรั่มของเราต่อไป **************************************************************** มาตรวิทยา .




ขอบคุณครับ

เกี่ยวกับชนิดของยูมิน



________ Carl Zeiss Pte Ltd
อุตสาหกรรมมาตรวิทยาภูมิภาคกลุ่มธุรกิจการตลาดบริหาร