The conventional testing methods ba

The conventional testing methods based on specifications and using automatic test equipment are known to be time consuming and expensive. In addition, there are many problems with analog circuits such as the node accessibility problems and the lack of common test strategies and standards. Therefore, due to those difficulties, self-test techniques for analog and mixed signal blocks are gaining importance [5-6]. In fact, self–testing is the technique of designing additional hardware features into integrated circuits to enable them to perform self-testing and thereby reducing dependence on external automated test equipment (ATE). Thus, the self-testing approach is a Design-for-Testability (DFT) technique to provide simpler, faster, more efficient, and cost-effective testing of a chip [7].

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

วิธีทดสอบทั่วไปตามข้อกำหนด และใช้อุปกรณ์อัตโนมัติทดสอบทราบว่าจะใช้เวลานาน และมีราคาแพง นอกจากนี้ มีปัญหามากกับวงจรแอนะล็อกเช่นปัญหาการเข้าถึงโหนและขาดกลยุทธ์ทดสอบทั่วไปและมาตรฐาน ดังนั้น เนื่องจากความยากลำบากเหล่านั้น เทคนิคทดสอบสำหรับสัญญาณแอนะล็อก และแบบผสมบล็อกจะได้รับความสำคัญ [5-6] -ทดสอบตนเองในความเป็นจริง เป็นเทคนิคของการออกแบบฮาร์ดแวร์เพิ่มเติมคุณสมบัติเป็นวงจรแบบรวมจะทำให้การทดสอบด้วยตนเองจึงช่วยลดการพึ่งพาอุปกรณ์ทดสอบอัตโนมัติภายนอก (ATE) ดังนั้น วิธีทดสอบตนเองเป็นเทคนิคการออกแบบสำหรับ-Testability (DFT) ให้เรียบง่าย รวดเร็ว มีประสิทธิภาพ และคุ้มค่าการทดสอบของชิพ [7]

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

วิธีการทดสอบแบบเดิมขึ้นอยู่กับข้อกำหนดและการใช้อุปกรณ์ทดสอบอัตโนมัติที่รู้จักกันเป็นเวลานานและมีราคาแพง นอกจากนี้ยังมีปัญหามากกับวงจรแอนะล็อกเช่นปัญหาการเข้าถึงโหนดและการขาดกลยุทธ์การทดสอบทั่วไปและมาตรฐาน ดังนั้นเนื่องจากความยากลำบากเหล่านั้นเทคนิคการทดสอบตัวเองสำหรับบล็อกอะนาล็อกและสัญญาณผสมจะดึงดูดความสำคัญ [5-6] ในความเป็นจริงการทดสอบตัวเองเป็นเทคนิคของการออกแบบคุณสมบัติของฮาร์ดแวร์เพิ่มเติมเข้าสู่วงจรเพื่อให้พวกเขาดำเนินการทดสอบด้วยตนเองและจะช่วยลดการพึ่งพาอุปกรณ์ทดสอบอัตโนมัติภายนอก (ATE) ดังนั้นวิธีการทดสอบตัวเองคือการออกแบบสำหรับการตรวจสอบได้ (DFT) เทคนิคเพื่อให้ง่ายขึ้นเร็วขึ้นมีประสิทธิภาพมากขึ้นและการทดสอบค่าใช้จ่ายที่มีประสิทธิภาพของชิป [7]

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

แบบทดสอบวิธีการตามข้อกําหนดและการใช้อุปกรณ์ทดสอบอัตโนมัติเป็นที่รู้จักกันเป็นเวลานาน และแพง นอกจากนี้ มีปัญหามากกับวงจรแอนะล็อก เช่น โหนดการเข้าถึงปัญหาและขาดกลยุทธ์การทดสอบทั่วไปและมาตรฐาน therefore , due to difficulties those ,แบบทดสอบตนเองเทคนิคผสมบล็อกสัญญาณอะนาล็อกและดึงดูดความสำคัญ [ 5-6 ] ในความเป็นจริงการทดสอบ–ตนเองเป็นเทคนิคของการออกแบบคุณลักษณะฮาร์ดแวร์เพิ่มเติมในวงจรรวมเพื่อให้พวกเขาที่จะดำเนินการทดสอบด้วยตนเอง และเพื่อลดการพึ่งพาอุปกรณ์ภายนอกโดยอัตโนมัติทดสอบ ( กิน ) ดังนั้นการทดสอบตนเองแนวทางการออกแบบสำหรับ testability ( DFT ) เทคนิคเพื่อให้ง่ายขึ้น เร็วขึ้น มีประสิทธิภาพมากขึ้น และการทดสอบประสิทธิภาพของชิป [ 7 ]