transmission electron microscopy (T

transmission electron microscopy (TEM) and high-resolution TEM
(HR-TEM), and scanning transmission electron microscopy (STEM)
images. The measurements were carried out with UV–vis 2550
Shimadzu Spectrometer, Spex Fluoromax 4P Emission Spectrophotometer,
Bruker D8 advanced X-ray powder diffractometer, Jeol JEM-
2011, and Jeol JEM-2100F, respectively.
2.7. Device fabrication
The devices were fabricated on stripped indium tin oxide (ITO)
coated glass substrates. At first, poly(3,4-ethylenedioxythiophene):poly(styrenesulfonate)
(PEDOT:PSS) solution was spun at
5000 rpm on the stripped ITO substrates; the films were annealed
at 150 1C for 15 min in nitrogen environment to obtain a highly
crystalline and conductive layer. On top of the PEDOT:PSS film,
hole-transporting N,N0 bis(3-methylphenyl)-N,N0
-diphenyl-benzidine
(TPD) in chloroform solution (10 mg/mL) was spun at a speed
of 3000 rpm followed by annealing at 110 1C for 45 min in the
inert environment. As the next layer, the active nanoparticles
(AIZS) in toluene (20 mg/mL) were spun at a speed of 1600 rpm
that was dried at 140 1C for 30 min in the same environment.
The ZnO nanoparticle layer, spun from 10 mg/mL solution in
2-propanol and annealed at 110 1C for 10 min completed the film
deposition process. As the top electrode, aluminum strips, orthogonal
to the ITO ones, were thermally evaporated on the ZnO film
with an effective area of the devices being 4 mm2
.
2.8. Device characterization
To characterize the devices, they were kept in a shielded
vacuum chamber that had a quartz window for the detection of
light. While current–voltage (I–V) characteristics were recorded
with a Keithley Model 2636A Dual-channel System SourceMeter
instrument, luminous output of the LEDs was measured with
a Konica Minolta LS-110 Luminance Meter. All the instruments,
connected through a GPIB, were operated through software. EL
spectra of the devices were recorded with a Spex Fluoromax 4P
emission spectrophotometer after blocking the excitation beam.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ส่งอิเล็กตรอน (TEM) และความละเอียดสูง TEM(HR-TEM), และส่งอิเล็กตรอน (ลำต้น)รูปภาพ การประเมินที่ดำเนินการกับ UV – vis 2550สเปกโตรมิเตอร์ Shimadzu, Spex Fluoromax 4P ปล่อย SpectrophotometerBruker D8 ขั้นสูง diffractometer ของผง X-ray, Jeol JEM-2011 และ Jeol JEM-2100F ตามลำดับ2.7 อุปกรณ์ประดิษฐ์อุปกรณ์ถูกประดิษฐ์ในปล้นอินเดียมทินออกไซด์ (ITO)เคลือบพื้นผิวแก้ว ที่แรก poly(3,4-ethylenedioxythiophene):poly(styrenesulfonate)โซลูชั่น (PEDOT:PSS) ถูกปั่นด้วย5000 รอบต่อนาทีบนพื้นผิว ITO ปล้น ภาพยนตร์ถูกอบที่ 1C 150 15 นาทีในสภาพแวดล้อมของไนโตรเจนรับสูงชั้นผลึก และนำไฟฟ้า ด้านบนของฟิล์ม PEDOT:PSSขนรู N, N0 bis(3-methylphenyl) N, N0-ได-benzidine(TPD) ในคลอโรฟอร์ม โซลูชัน (10 mg/mL) ปั่นที่ความเร็วรอบต่อนาที 3000 ตาม ด้วยการอบอ่อนที่ 1C 110 สำหรับ 45 นาทีในการสภาพแวดล้อมที่เฉื่อย เป็นชั้นที่ถัดไป เก็บกักการใช้งาน(AIZS) ในโทลูอีน (20 มิลลิกรัม/มิลลิลิตร) ได้ปั่นที่ความเร็ว 1600 รอบต่อนาทีที่ถูกอบที่ 140 1C 30 นาทีสภาพแวดล้อมเดียวกันชั้น nanoparticle สูง ZnO ปั่นจากโซลูชัน 10 mg/mL ใน2 ไร propanol และอบที่ 110 1C สำหรับ 10 นาทีเสร็จสมบูรณ์ภาพยนตร์กระบวนการสะสม เป็นขั้วไฟฟ้าด้านบน อลูมิเนียมชุด มุมฉากการอิคน มีความร้อนได้รับระเหยฟิล์ม ZnOมีพื้นที่มีประสิทธิภาพของอุปกรณ์ได้ 4 mm2.2.8. อุปกรณ์จำแนกลักษณะการกำหนดคุณลักษณะของอุปกรณ์ พวกเขาถูกเก็บไว้ในการป้องกันสุญญากาศที่มีหน้าต่างควอทซ์สำหรับตรวจหาแสง ในขณะที่มีบันทึกลักษณะกระแสแรงดันไฟฟ้า (I-V)กับ SourceMeter เป็นระบบสองช่อง Keithley รุ่น 2636Aเครื่องมือ วัดผลลัพธ์ส่องสว่างของไฟ Led ด้วยเครื่องวัดความสว่าง LS-110 เครื่องถ่ายเอกสาร Minolta ทั้งหมดเครื่องมือการเชื่อมต่อผ่านแบบ GPIB ได้ดำเนินการผ่านซอฟต์แวร์ เอลสเป็คของอุปกรณ์ได้รับการบันทึกกับ Spex Fluoromax 4Pspectrophotometer ปล่อยหลังจากบล็อกแสงไฟฟ้า

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ส่งกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (TEM) และความละเอียดสูง TEM
(HR-TEM) และการส่งผ่านการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (STEM)
ภาพ วัดได้ดำเนินการกับ UV-Vis 2550
Shimadzu Spectrometer, Spex Fluoromax 4P Emission Spectrophotometer,
Bruker D8 ขั้นสูง X-ray diffractometer ผง Jeol JEM-
2011 และ Jeol JEM-2100F ตามลำดับ.
2.7 การผลิตอุปกรณ์
อุปกรณ์ถูกประดิษฐ์ในการปล้นออกไซด์อินเดียมดีบุก (ITO)
เคลือบพื้นผิวแก้ว ตอนแรกโพลี (3,4-ethylenedioxythiophene): โพลี (styrenesulfonate)
(PEDOT: PSS) แก้ปัญหาที่ถูกหมุน
5000 รอบต่อนาทีบนพื้นผิวปล้น ITO; ภาพยนตร์ที่ถูกอบ
ที่ 150 1C นาน 15 นาทีในสภาพแวดล้อมที่จะได้รับไนโตรเจนสูง
ชั้นผลึกและกระแสไฟฟ้า ด้านบนของ PEDOT: PSS ภาพยนตร์,
หลุมขนส่ง N, ทวิ N0 (3-methylphenyl) -N, N0
-diphenyl-benzidine
(TPD) ในการแก้ปัญหาคลอโรฟอร์ม (10 mg / ml) กำลังหมุนด้วยความเร็ว
3000 รอบต่อนาทีตาม โดยการอบที่อุณหภูมิ 110 1C สำหรับ 45 นาทีใน
สภาพแวดล้อมที่เฉื่อย เป็นชั้นถัดไปอนุภาคนาโนที่ใช้งาน
(AIZS) ในโทลูอีน (20 mg / ml) กำลังหมุนด้วยความเร็ว 1600 รอบต่อนาที
ที่แห้งที่ 140 1C เป็นเวลา 30 นาทีในสภาพแวดล้อมเดียวกัน.
ชั้นอนุภาคนาโนซิงค์ออกไซด์, ปั่นจาก 10 มิลลิกรัม วิธีการแก้ปัญหา mL / ใน
2 โพรพานและอบที่ 110 1C เป็นเวลา 10 นาทีเสร็จฟิล์ม
กระบวนการให้การของพยาน ในฐานะที่เป็นขั้วไฟฟ้าบนแผ่นอลูมิเนียมฉาก
กับคน ITO ถูกความร้อนระเหยฟิล์มซิงค์ออกไซด์
ที่มีพื้นที่ที่มีประสิทธิภาพของอุปกรณ์เป็น 4 mm2
.
2.8 ลักษณะของอุปกรณ์
ที่จะอธิบายลักษณะอุปกรณ์ที่พวกเขาเก็บไว้ในป้องกัน
สูญญากาศที่มีหน้าต่างควอทซ์สำหรับการตรวจสอบของ
แสง ในขณะที่ปัจจุบันแรงดัน (I-V) ลักษณะที่ถูกบันทึกไว้
ด้วย Keithley รุ่น 2636A Dual-channel ระบบ SourceMeter
ตราสารผลผลิตการส่องสว่างของไฟ LED ได้รับการวัดที่มี
Konica Minolta LS-110 สว่าง Meter เครื่องมือทั้งหมดที่
เชื่อมต่อผ่าน GPIB ที่เข้ารับการผ่าตัดผ่านทางซอฟต์แวร์ EL
สเปกตรัมของอุปกรณ์ที่ถูกบันทึกไว้ด้วย Spex Fluoromax 4P
การปล่อย spectrophotometer หลังจากการปิดกั้นลำแสงกระตุ้น

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( TEM ) และแบบความละเอียดสูง( hr-tem ) , และการสแกนส่งกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( ต้น )ภาพ วัดได้ทดลองกับ UV Vis 2550 –Shimadzu สเปกโตรมิเตอร์ตัด fluoromax 4P Emission Spectrophotometer ,BRUKER d8 ขั้นสูงดิฟแฟรกโทมิเตอร์ผง - จอล - รังสีเอกซ์2011 , และจอล jem-2100f ตามลำดับ2.7 . ผลิตอุปกรณ์อุปกรณ์ที่ถูกประดิษฐ์ในอินเดียมทินออกไซด์ ( ITO ) ปล้นพื้นผิวกระจกเคลือบ ตอนแรก พอลิ 3,4-ethylenedioxythiophene ) : โพลี ( styrenesulfonate )( pedot : แฮ่ ) มาปั่นที่ โซลูชั่น5000 รอบต่อนาทีที่ปล้นนี้พื้นผิว ; ฟิล์มอบที่ 150 ใน 15 นาทีในบรรยากาศไนโตรเจนที่ได้รับสูงผลึกและการเล . ด้านบนของ pedot : แฮ่ ฟิล์มรูขน , อัตราส่วน BIS ( 3-methylphenyl ) - 30 ,- ไดฟีนิลเบนซิดีน( TPD ) ในสารละลายคลอโรฟอร์ม ( 10 mg / ml ) คือการปั่นที่ความเร็ว3 , 000 รอบต่อนาที ตามด้วยการอบอ่อนที่ 110 ใน 45 นาทีในสิ่งแวดล้อมเป็นก๊าซเฉื่อย เป็นชั้นถัดไป นาโนแอคทีฟ( aizs ) ในสารละลายโทลูอีน ( 20 มิลลิกรัมต่อมิลลิลิตรปั่นที่ความเร็ว 1600 รอบต่อนาทีที่อุณหภูมิ 140 ใน 30 นาที ในสภาพแวดล้อมเดียวกันการซิงค์ออกไซด์สำหรับชั้นปั่นจาก 10 mg / ml ในสารละลายและโพรพานอลอบที่ 110 ใน 10 นาทีเสร็จ ฟิล์มกระบวนการเคลือบ เป็นขั้วไฟฟ้าบนแผ่นอลูมิเนียม ) ,การโต้ คน , ซึ่งระเหยบนซิงค์ออกไซด์ฟิล์มด้วยพื้นที่ที่มีประสิทธิภาพของอุปกรณ์ที่ถูก 4 แน่น.2.8 . คุณสมบัติอุปกรณ์ลักษณะของอุปกรณ์ที่พวกเขาถูกเก็บไว้ในร่มสูญญากาศที่มีผลึกหน้าต่างการตรวจสอบแสง ในขณะที่แรงดัน–ปัจจุบัน ( ผม ) V ) ลักษณะเป็นบันทึกกับแบบ Dual Channel ระบบ sourcemeter 2636a คีทลีย์อุปกรณ์ส่งออกที่ส่องสว่างของไฟ LED ได้ด้วยเครื่องวัดความส่องสว่าง Konica Minolta ls-110 . เครื่องมือทั้งหมดเชื่อมต่อผ่าน gpib ถูกใช้ผ่านซอฟต์แวร์ เอลสเปกตรัมของอุปกรณ์ที่ถูกบันทึกไว้ด้วยการตัด fluoromax 4Pหลังจากปล่อยเครื่องปิดกั้นแบบคาน