The t tests for the coefficients of

The t tests for the coefficients of voltage shown in Table 13
indicate that the field intensities used in this research (0, 500, 1000,
1500, 2000, 2500, 3000, 3500 volts with a static field and 0, 500, 1000,
1500, 2000, 2500, 3000, 3500, 4000, 4500, 5000, and 5500 volts with a 60
hertz field) had no effect on the standard deviation of the mean time
for 50 percent of the seeds to germinate for any of the four groups of
seeds even at the 5 percent level. Under the experimental conditions
the same was true of the field intensities for dry soybeans and soaked
corn when the mean time for 50 percent of the seeds to germinate, t,
was used as the dependent variable. However, for dry corn and soaked
soybeans field intensity had a significant effect at the 1 percent level
on the time for 50 percent of the seeds to germinate. Thus, for these
two groups of seeds an increase in the field strength (or plate voltage)
increased the length of time for 50 percent of the seeds to germinate.
102
This would tend to indicate some damage was occurring to these seeds.
What was occurring on a biochemical level is not presently known, but
these results even though done on seeds and not with more mature plants
would tend to support Murr's (68) results.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การทดสอบ T สำหรับค่าสัมประสิทธิ์ของแรงดันไฟฟ้าที่แสดงในตารางที่ 13
แสดงให้เห็นว่าความเข้มของสนามที่ใช้ในการวิจัยครั้งนี้ (0, 500, 1000,
1500, 2000, 2500, 3000, 3500 โวลต์ที่มีข้อมูลแบบคงที่และ 0, 500, 1000,
1500 , 2000, 2500, 3000, 3500, 4000, 4500, 5000 และ 5500 โวลต์ที่มี 60
สาขาเฮิรตซ์) ไม่มีผลต่อค่าเบี่ยงเบนมาตรฐานของเวลาเฉลี่ยที่
ร้อยละ 50 ของเมล็ดจะงอกใด ๆ ของสี่กลุ่ม
เมล็ดแม้กระทั่งในระดับร้อยละ 5 ภายใต้เงื่อนไขการทดลอง
เดียวกันเป็นจริงของความเข้มสนามถั่วเหลืองแห้งและแช่
ข้าวโพดเมื่อเวลาเฉลี่ยที่ร้อยละ 50 ของเมล็ดจะงอก, T,
ถูกใช้เป็นตัวแปรตาม อย่างไรก็ตามสำหรับข้าวโพดแห้งและแช่
ถั่วเหลืองเข้มสนามมีผลกระทบอย่างมีนัยสำคัญที่ระดับร้อยละ 1
ในเวลาสำหรับร้อยละ 50 ของเมล็ดจะงอก ดังนั้นสำหรับเหล่านี้
ทั้งสองกลุ่มของเมล็ดเพิ่มขึ้นในความแรงของสนาม (หรือแรงดันแผ่น)
เพิ่มขึ้นระยะเวลาร้อยละ 50 ของเมล็ดจะงอก.
102
นี้จะมีแนวโน้มที่จะบ่งบอกถึงความเสียหายบางส่วนได้รับการเกิดขึ้นกับเมล็ดเหล่านี้.
อะไรคือสิ่งที่เกิดขึ้น ในระดับชีวเคมีไม่เป็นที่รู้จักในปัจจุบัน แต่
ผลลัพธ์เหล่านี้แม้ว่าจะทำในเมล็ดและไม่ได้มีพืชที่เป็นผู้ใหญ่มากขึ้น
จะมีแนวโน้มที่จะสนับสนุน Murr ของ (68) ผลการ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

t การทดสอบค่าสัมประสิทธิ์แรงดัน แสดงดังตารางที่ 13พบว่า ด้านความเข้มที่ใช้ในการวิจัย ( 0 , 500 , 1000 ,1500 , 2000 , 2500 , 3000 , 3500 โวลต์กับ static field และ 0 , 500 , 1000 ,1500 , 2000 , 2500 , 3000 , 3500 , 4000 , 4500 , 5000 และ 5500 โวลต์กับ 60เฮิรตซ์สนาม ) ไม่มีผลต่อค่าส่วนเบี่ยงเบนมาตรฐานของค่าเฉลี่ยเวลา50 เปอร์เซ็นต์ของเมล็ดที่จะงอกสำหรับใด ๆของทั้ง 4 กลุ่มเมล็ดพันธุ์ที่ระดับ 5 เปอร์เซ็นต์ ภายใต้เงื่อนไขการทดลองเดียวกันเป็นจริงของความเข้มสนามถั่วเหลืองแห้งและเปียกข้าวโพดเมื่อเวลาหมายถึง 50 เปอร์เซ็นต์ของเมล็ดที่จะงอก ทีถูกใช้เป็นตัวแปรตาม อย่างไรก็ตาม สำหรับข้าวโพดแห้งและเปียกความเข้มสนามถั่วเหลืองมีผลอย่างมีนัยสำคัญทางสถิติที่ระดับความเชื่อมั่นร้อยละในเวลา 50 เปอร์เซ็นต์ของเมล็ดที่จะงอก ดังนั้น , เหล่านี้สองกลุ่มของเมล็ดเพิ่มขึ้นในด้านความแข็งแกร่ง ( หรือแผ่นแรงดันไฟฟ้า )เพิ่มความยาวของเวลาสำหรับ 50 เปอร์เซ็นต์ของเมล็ดที่จะงอก102นี้มักจะพบบางความเสียหายเกิดขึ้นกับเมล็ดเหล่านี้สิ่งที่เกิดขึ้นในระดับชีวเคมี ไม่ใช่ปัจจุบัน รู้จัก แต่ผลลัพธ์เหล่านี้แม้ว่าทำในเมล็ดและกับผู้ใหญ่มากขึ้น พืชก็มีแนวโน้มที่จะสนับสนุน murr ( 68 ) ผลลัพธ์