The wide-angle-X-ray diffraction (X

The wide-angle-X-ray diffraction (XRD) patterns of K, KA,KB, and freeze dried CNCs were recorded on a Bruker AXS Xray diffraction instrument using monochromatic CuK_ radiation (_ = 0.154 nm) generated at 40 kV and 40 mA. Scattered radiation was detected in the range for Bragg’s angle 2_ of 10–70◦.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

บันทึกในเครื่องมือการเลี้ยวเบน Bruker AXS Xray ใช้รังสี CuK_ ยังรูปแบบ wide-angle-X-ray การเลี้ยวเบน (XRD) ของ K, KA, KB และ CNCs แช่แข็งอบแห้ง (_ = 0.154 nm) สร้างที่ 40 kV และ 40 mA ตรวจพบรังสีกระจายในช่วงสำหรับ 2_ มุมของ Bragg ของ 10-70◦

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เลนส์มุมกว้าง-X-ray (XRD) รูปแบบของ K, KA, KB และแช่แข็งแห้ง CNCs ถูกบันทึกไว้ในเครื่องเลนส์ Bruker AXS Xray ใช้สีเดียวรังสี CuK_ (_ = 0.154 นาโนเมตร) ที่สร้างขึ้นที่ 40 กิโลโวลต์และ 40 mA . รังสีกระจายถูกตรวจพบในช่วงที่แบร็กมุม 2_ ของ10-70◦

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การ wide-angle-x-ray diffraction ( XRD ) รูปแบบของ K , ka , KB , และแช่แข็งแห้ง CNCs ได้ถูกบันทึกไว้ในบรุคเกอร์ขวาน Xray เครื่องมือที่ใช้สําหรับ cuk_ การเลี้ยวเบนรังสี ( _ = 0.154 nm ) สร้างขึ้น ที่ 40 กิโลและ MA 40 กระจายรังสีที่ตรวจพบในช่วงสำหรับแบร็กมุม 2_ 10 – 70 ◦ .