Scanning electron microscopy and X-

Scanning electron microscopy and X-ray diffraction were used to study the microstructures
of the sintered samples

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ชาวดัตช์การสแกนและการเลี้ยวเบนรังสีเอ็กซ์ใช้ในการศึกษาโครงสร้างระดับจุลภาคของตัวอย่างที่เผา

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกนและ X-ray เลนส์ถูกนำมาใช้เพื่อการศึกษาจุลภาค
ของสารตัวอย่าง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด และการเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ์ที่ใช้ศึกษาโครงสร้างจุลภาคตัวอย่างของการเผา