2.7. Scanning electron microscope (

2.7. Scanning electron microscope (SEM)
The morphology of the surfaces and fracture surfaces of samples were recorded with an INSPECT F scanning electron microscope(SEM) operated at 5 kV working voltage. Before the SEM observation, the specimens were sputtered with gold under vacuum. Samples with fracture surface of neat PLA and PLA/NR blends were prepared by brittle fracture with liquid nitrogen cooling.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2.7 การการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM)รูปร่างพื้นผิวและพื้นผิวการแตกหักอย่างถูกบันทึกไว้ ด้วยการสแกน microscope(SEM) อิเล็กตรอนดำเนินการที่แรงดัน 5 kV ทำการ F ตรวจสอบ ก่อนเก็บข้อมูล SEM, specimens ถูก sputtered ทองภายใต้สุญญากาศ ตัวอย่างที่ มีทำให้พื้นผิวของปลาและ ปลา/NR ผสมเรียบร้อยก็เตรียม โดยกระดูกเปราะด้วยไนโตรเจนเหลว

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.7 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกน (SEM)
สัณฐานของพื้นผิวและพื้นผิวการแตกหักของกลุ่มตัวอย่างถูกบันทึกด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด F ตรวจสอบ (SEM) ดำเนินการใน 5 กิโลโวลต์แรงดันทำงาน ก่อนที่จะมีการสังเกต SEM ตัวอย่างที่ถูกพ่นด้วยทองคำภายใต้สูญญากาศ ตัวอย่างที่มีพื้นผิวการแตกหักของ PLA เรียบร้อยและ PLA / ผสม NR ถูกจัดทำขึ้นโดยการแตกหักเปราะระบายความร้อนด้วยไนโตรเจนเหลว

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.7 . กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM )
สัณฐานวิทยาของพื้นผิวและพื้นผิวของรอยแตกจำนวนบันทึกการตรวจสอบ F กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) ดำเนินการ 5 KV ทำงานแรงดัน ก่อนจากการสังเกต ทำการ sputtered กับทองภายใต้สุญญากาศตัวอย่างของพื้นผิวการแตกหักเรียบร้อยปลาและปลา / ยางธรรมชาติผสมเตรียมโดยการแตกเปราะกับเย็นไนโตรเจนเหลว