IntroductionSMSfiber structure is e

IntroductionSMSfiber structure is extensively investigated by the scholars allover the world. The output spectrum of the SMS is modulated tocarry the information of the change of the multimode fiber (MMF).Thus, when the MMF is affected by the variation of certain param-eters, such as the temperature, strain and refractive, the length,curvature or distribution of the silica fiber refractive index (RI), allmay change to shift the transmission spectrum. And then the mea-surand could be obtained via the one to one relationship betweenthe spectral shift and measurand variation.For example, utilizing the modal interference to measure tem-perature is based on the thermo-optic effect and the thermalexpansion effect which change the length, diameter and refractiveindex of the MMF. And then the output spectrum will shift [1,2].As measuring strain, the stress is applied on the longitudinal ortransverse to bend the sensing fiber and the fiber is twisted anddeformed. Due to the mechanical principle and the photoelasticeffect, the output spectrum shifted [3–5]. And the curvature mea-surement is similar to the strain measurement except for applyingthe stress transversely on the middle of the sensing fiber [6,7].

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

โครงสร้าง IntroductionSMSfiber เป็นอย่างกว้างขวางตรวจสอบ โดยนักวิชาการ allover โลก สเปกตรัมผลของ SMS มี tocarry ซ้อนข้อมูลการเปลี่ยนแปลงของเส้นใย multimode (MMF) ข้อดังนั้น เมื่อ MMF ได้รับผลกระทบจากการเปลี่ยนแปลงบางพารามิเตอร์-eters เช่นอุณหภูมิ สายพันธุ์ และ จักษุ ความยาว โค้ง หรือซิลิกาไฟเบอร์ดรรชนีหักเห (RI), allmay เปลี่ยนกะคลื่นส่งกระจาย และสามารถรับ mea surand ผ่านความสัมพันธ์หนึ่ง betweenthe กะสเปกตรัมและความผันแปร measurand แล้ว ตัวอย่าง ใช้รบกวนจนวัด perature ยการยึดผลใยเทอร์โมและผล thermalexpansion ซึ่งเปลี่ยนความยาวเส้นผ่าศูนย์กลาง และ refractiveindex ของ MMF แล้ว คลื่นเอาท์พุทจะเปลี่ยน [1, 2] เป็นวัดที่ต้องใช้ ความเครียดคือใช้ ortransverse ระยะยาวโง้งใย sensing และไฟเบอร์เป็นบิด anddeformed หลักการเครื่องจักรกลและการ photoelasticeffect สเปกตรัมผลเปลี่ยน [3-5] และโค้ง mea-surement จะคล้ายกับการวัดต้องใช้ยกเว้นความเครียด applyingthe transversely บนกลางของใย sensing [6,7]

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

โครงสร้าง IntroductionSMSfiber มีการตรวจสอบอย่างกว้างขวางโดยนักวิชาการ allover โลก สเปกตรัมการส่งออกของ SMS จะปรับ tocarry ข้อมูลของการเปลี่ยนแปลงของเส้นใยมัลติ (MMF) ดังนั้นเมื่อ MMF รับผลกระทบจากการเปลี่ยนแปลงของบางพระราม-พาราเช่นอุณหภูมิความเครียดและการหักเหของแสง, ความยาว, ความโค้งหรือการกระจายตัวของดัชนีหักเหเส้นใยซิลิกา (RI) allmay เปลี่ยนแปลงที่จะเปลี่ยนการส่งคลื่นความถี่ และแล้วการไฟฟ้านครหลวง-surand อาจจะได้รับผ่านทาง 1-1 สัมพันธ์ betweenthe เปลี่ยนรางและการวัดตัวอย่าง variation.For ใช้กิริยารบกวนการวัด TEM-perature จะขึ้นอยู่กับผลกระทบที่เกิดความร้อนใยแก้วนำแสงและผลกระทบ thermalexpansion ที่เปลี่ยนความยาว ขนาดเส้นผ่าศูนย์กลางและ refractiveindex ของ MMF และจากนั้นคลื่นความถี่เอาท์พุทจะเปลี่ยน [1,2] ณ วัดค่าความเครียดความเครียดถูกนำไปใช้ใน ortransverse ยาวโค้งงอใยตรวจจับและเส้นใยเป็นบิด anddeformed เนื่องจากหลักการกลและ photoelasticeffect สเปกตรัมการส่งออกขยับ [3-5] และการไฟฟ้านครหลวงโค้ง-surement คล้ายกับวัดค่าความเครียดยกเว้นความเครียด applyingthe ขวางในช่วงกลางของการตรวจจับเส้นใย [6,7]

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

โครงสร้าง introductionsmsfiber อย่างกว้างขวาง โดยนักวิชาการ allover โลก ผลผลิตของสเปกตรัม SMS คือปรับ tocarry ข้อมูลการเปลี่ยนแปลงของเส้นใยมัลติ ( MMF ) ดังนั้นเมื่อ MMF จะได้รับผลกระทบจากการเปลี่ยนแปลงของ eters พารามิเตอร์บางอย่าง เช่น อุณหภูมิ เมื่อย และการหักเหของแสง ความยาวความโค้งหรือการกระจายตัวของซิลิกาไฟเบอร์ดรรชนีหักเห ( RI ) allmay เปลี่ยนกะสัญญาณสเปกตรัม แล้ว surand แม่อาจจะได้รับผ่านทางหนึ่งในการเปลี่ยนรูปแบบและความสัมพันธ์ระหว่าง measurand ตัวอย่างเช่นใช้รบกวนการวัดแบบ perature ขึ้นอยู่กับผลความร้อนแสงและ thermalexpansion Effect ที่เปลี่ยนความยาวเส้นผ่าศูนย์กลางและ refractiveindex ของ MMF . แล้วการแสดงผลสเปกตรัมจะเปลี่ยน [ 1 , 2 ] . เป็นวัดความเครียด ความเครียดที่ใช้ใน ortransverse ตามยาวโค้งจากเส้นใยและเส้นใยมีบิด anddeformed .เนื่องจากหลักการทางกลและ photoelasticeffect เอาท์พุทสเปกตรัมเลื่อน [ 3 – 5 ] และความโค้ง มี surement คล้ายกับสายพันธุ์การวัดยกเว้นนำความเครียดตามขวางบนกึ่งกลางของการตรวจจับไฟเบอร์ [ 6 , 7 ]