The crystal structure of representa

The crystal structure of representative thin films was carried
out by XRD as shown in Fig. 1a. Figure depicts the X-ray diffraction
(XRD) patterns of ZnO films with various Sn doping concentrations.
All diffraction peaks can be attributed to polycrystalline with hex-agonal wurtzite structure. The data are in agreement with the PDF
# 891397 data files. The crystallite size of the films was calculated
by using Debye Scherer formula

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ทำโครงสร้างผลึกของฟิล์มบางตัวแทนออก โดย XRD แสดงใน Fig. 1a รูปแสดงให้เห็นการเลี้ยวเบนเอ็กซ์เรย์รูปแบบ (XRD) ของฟิล์ม ZnO มี Sn ต่าง ๆ โดปปิงค์ความเข้มข้นยอดการเลี้ยวเบนทั้งหมดสามารถเกิดจากคโครงสร้าง wurtzite หกเหลี่ยม agonal ข้อมูลจะยังคง PDFข้อมูล#891397 คำนวณขนาด crystallite ของภาพยนตร์โดยใช้สูตร Debye Scherer

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

โครงสร้างผลึกของฟิล์มบางตัวแทนได้ดำเนิน
การโดย XRD ดังแสดงในรูป 1a รูปแสดงให้เห็น X-ray diffraction
(XRD) รูปแบบของภาพยนตร์ซิงค์ออกไซด์ที่มีความเข้มข้นยาสลบ Sn ต่างๆ.
ยอดการเลี้ยวเบนทั้งหมดสามารถนำมาประกอบกับ Polycrystalline กับฐานสิบหก agonal โครงสร้าง wurtzite ข้อมูลที่อยู่ในข้อตกลงที่มีรูปแบบไฟล์ PDF
# 891397 ไฟล์ข้อมูล ขนาดผลึกของภาพยนตร์ที่คำนวณ
โดยใช้สูตรเรอเดอบาย

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

โครงสร้างผลึกของฟิล์มบางตัวแทนดำเนินการ
โดย XRD ดังแสดงในรูปที่ 1 . รูปที่แสดงให้เห็นเครื่อง X-ray diffraction ( XRD )
รูปแบบของซิงค์ออกไซด์ฟิล์มกับ SN ยาสลบความเข้มข้นต่าง ๆ .
ยอดโดยทั้งหมดสามารถเกิดจากผลึกด้วย hex agonal wurtzite โครงสร้าง ข้อมูลในข้อตกลงกับ PDF
# 891397 ข้อมูลไฟล์ขนาดผลึกของฟิล์มโดยใช้สูตรคำนวณ
ดีบาย เชอร์เรอร์