The surface morphology of separator

The surface morphology of separators
was observed by a Hitachi S-4800 field emission scanning electron
microscope (SEM).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สัณฐานวิทยาที่พื้นผิวของตัวคั่นถูกตรวจสอบ โดยการปล่อยฟิลด์ S-4800 ฮิตาชิแกนอิเล็กตรอนกล้องจุลทรรศน์ (SEM)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สัณฐานพื้นผิวของตัวคั่นถูกพบโดย บริษัท ฮิตาชิสนาม S-4800 การปล่อยอิเล็กตรอนสแกนกล้องจุลทรรศน์(SEM)