Figure 1a–c shows the morphology of

Figure 1a–c shows the morphology of the 6H–SiC(0001) surface before and after the formation of a graphene monolayer by annealing in ultrahigh vacuum (UHV) as determined by atomic force microscopy (AFM) and LEEM.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

รูปที่ 1a-c แสดงรูปร่างพื้นผิว 6H–SiC(0001) ก่อน และ หลังการก่อตัวของ graphene monolayer โดยการอบเหนียวใน ultrahigh สูญญากาศ microscopy (UHV) แรงอะตอม (AFM) และ LEEM

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูปที่ 1a-คแสดงให้เห็นถึงลักษณะทางสัณฐานวิทยาของ 6H-SiC (0001) พื้นผิวก่อนและหลังการก่อตัวของ monolayer graphene โดยการหลอมในสุญญากาศยูเอชที (ที่ UHV) ตามที่กำหนดโดยใช้กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM) และ LEEM

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รูปที่ 1A และ C แสดงโครงสร้างของ SIC ( 001 ) 6H ซึ่งพื้นผิวก่อนและหลังการก่อตัวของกราฟีนอย่างโดยการหลอมในคลื่นวิทยุ สูญญากาศ ( uhv ) ตามที่กำหนดโดยกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม ( AFM ) และ leem .