2.7. Analysis of SMC during fungal

2.7. Analysis of SMC during fungal SSF
2.7.1. Microscopic analysis of wheat straw
Light microscopy (LeitzDiaplan microscope) with a 250 times magnification was used for monitoring of changes on wheat straw surface during the cultivation of fungi. Raw wheat straw, wheat straw in SMC after growing of A. bisporus, and wheat straw after growing of Trichoderma spp. and A. niger used in this study were analysed by microscopy. A TCA-1.31C microscopic camera was used for recording.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2.7 การวิเคราะห์ของ SMC ใน SSF เชื้อรา2.7.1. กล้องจุลทรรศน์วิเคราะห์ฟางข้าวสาลีแสง microscopy (LeitzDiaplan กล้องจุลทรรศน์) กับครั้ง 250 ขยายใช้สำหรับตรวจสอบการเปลี่ยนแปลงบนผิวฟางข้าวสาลีในระหว่างการเพาะปลูกของเชื้อรา วัตถุดิบข้าวสาลีฟาง ฟางข้าวสาลีใน SMC หลังจากการเติบโตของอ. bisporus ข้าวสาลีฟางหลังจากการเติบโตของเชื้อและไนเจอร์อ.ที่ใช้ในการศึกษานี้ถูก analysed โดย microscopy TCA เป็น-1.31 C กล้องจุลทรรศน์กล้องถูกใช้สำหรับการบันทึก

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.7 การวิเคราะห์ของ SMC ในช่วง SSF เชื้อรา
2.7.1 การวิเคราะห์ด้วยกล้องจุลทรรศน์ที่ทำจากฟางข้าวสาลีกล้องจุลทรรศน์แสง (กล้องจุลทรรศน์ LeitzDiaplan) ที่มีกำลังขยาย 250 ครั้งถูกนำมาใช้สำหรับการตรวจสอบของการเปลี่ยนแปลงบนพื้นผิวฟางข้าวสาลีในช่วงการเพาะปลูกของเชื้อรา
ฟางข้าวสาลีดิบฟางข้าวสาลีใน SMC หลังจากที่เพิ่มขึ้นของ bisporus เอและฟางข้าวสาลีหลังจากที่การเติบโตของเชื้อรา Trichoderma spp และไนเจอร์เอนำมาใช้ในการศึกษาครั้งนี้ได้รับการวิเคราะห์โดยใช้กล้องจุลทรรศน์ TCA-1.31C กล้องกล้องจุลทรรศน์ที่ใช้สำหรับการบันทึก

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.7 . การวิเคราะห์ความชื้นในระหว่างการพักของ SSF
. การวิเคราะห์ด้วยกล้องจุลทรรศน์ของฟางข้าวสาลี
( leitzdiaplan แสงกล้องจุลทรรศน์กล้องจุลทรรศน์ ) กับขยาย 250 เท่าใช้ตรวจสอบการเปลี่ยนแปลงบนพื้นผิวฟางข้าวสาลี ระหว่างการเพาะเลี้ยงเชื้อรา ฟางข้าวสาลีดิบฟางข้าวสาลีใน SMC หลังจากปลูก . bisporus และฟางข้าวสาลี หลังการเติบโตของ Trichoderma spp . และ .ไนเจอร์ ที่ใช้ในการศึกษาวิเคราะห์ด้วยกล้องจุลทรรศน์ . เป็น tca-1.31c กล้องจุลทรรศน์กล้องถูกใช้สำหรับการบันทึก